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  • Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪-Zeta电位仪

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪-Zeta电位仪

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面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 所在地北京市
  • 更新时间2020-01-20
  • 厂商性质其他
  • 入驻年限1
  • 产品数量39
  • 人气值3098
产品标签

粒度电位分析仪

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美国布鲁克海文仪器公司上海代表处是美国布鲁克海文仪器公司在中国的法定代表机构。

        美国布鲁克海文仪器公司(BIC)是世界上的专业从事设计、开发和生产颗粒特性表征以及分子量测定仪器的高技术公司,其专家组成员包括在光散射研究领域具声望的科学家,在他们的*下,并经过*的研究与实践,确立了BIC在光散射领域的主导者地位。

      九十年代以来,BIC不断推出新产品,包括相位光散射原理的Zeta电位分析仪(ZetaPALS)、高浓度粒度分析仪(BI-FOQELS)、实时在线粒度测量系统(ACOS)、数字相关器(TurboCorr)、以及多角度激光光散射仪(BI-MwA)与动静态光散射系统(BI-200SM)等等,这些仪器所采用的技术都代表着该领域的很高成就。

²*台数字相关器
²*块单卡式数字相关器
²*个将背向光散射技术用于商业仪器
²*个使用插入式电极用于Zeta电位测量
²*个将X-射线用于粒度分析
²*个将PALS技术商业化
²*个将CCD检测器用于多角光散射
²*台实时在线粒度测量系统(ACOS)

        BIC全面的光散射仪器为客户提供系统的实验解决方案。目前,BIC的仪器已广泛应用于包括中国在内的各国*实验室的研究中。BIC的总部设在美国的纽约,在40多个国家设有分支机构。在中国设有技术服务中心和3个代表处,为客户提供及时周到的技术枝持与售后服务。  

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产地进口 加工定制
Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪*结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技术,拥有15°、90°与173°三个散射角度,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量,是目前市场上功能*大的粒度与Zeta电位分析仪。
Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪-Zeta电位仪 产品详情

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪

产品简介:

    Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪*结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技术,拥有15°、90°与173°三个散射角度,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量,是目前市场上功能*大的粒度与Zeta电位分析仪。

详细说明:

    作为先将背向光散射技术(Back-Scattering)引入高浓度粒度分析的厂家,Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了*结合,突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS(相位分析光散射)技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,实现在同一台粒度分析仪中,既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号,又可以有效地提高了测量浓度上限,至高可达40%wt;硬件PALS技术(与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高1000倍)的应用,*解决了*以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下(电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的分辨率进行测量)的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能*大的粒度与Zeta电位分析仪。

NanoBrook产品系列

项目

173

173Plus

Omni

ZetaPALS


 

粒度测量功能

分子量测量功能

Zeta电位测量功能


 


 


 


 

散射角

15°与173°

15°、90°与173°

粒度范围

0.3nm-10μm

分子量测定范围

342~2×107Dalton

相关器

4×522个物理通道,4×1011个线性通道

Zeta电位适用粒度范围

1nm~100μm

Zeta电位范围

-500mV~500mV

电导率范围

0-30S/m

电泳迁移率范围

10-11~10-7m2/V.s

电极

开放式持久型电极

温控范围与精度

-5~110℃,±0.1℃

激光源

40mW光泵半导体激光器

检测器

PMT或APD

分析软件

Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件

大小及重量

233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg


 

BI-ZTU自动滴定仪

可对PH值、电导率和添加剂浓度作图

BI-870介电常数仪

直接测量溶剂的介电常数值

BI-SV10粘度计

用于测量溶剂及溶液的粘度

●代表“有”  ○代表“无”

 

典型应用  

1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束

2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体

3.多糖、药物制备

4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液

5.油包水、水包油体系

6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂

7.食品、化妆品配方

8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑


 

应用案例

    不同粒径对Zeta电位等电点的影响          不同官能团配比对等电点的影响         Zeta电位值与细胞吸收度的关系

    通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例,混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4~7之间明显的变化,不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。(数据摘自JACS)

 

技术参数

1.粒度测量范围:0.3nm~10μm

2.Zeta电位测量适用粒度范围:1nm~100μm

3.样品浓度范围:0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)

4.典型精度:1%

5.样品类型:蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品

6.样品体积:1~3ml

7.分子量测定范围:342~2×107Dalton

8.Zeta电位范围:-500mV~500mV

9.电导率范围:0~30S/m

10.电泳迁移率范围:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s

11.电场强度:0 ~ 60 kV/m

12.电极:持久性开放式电极,电极材料纯钯;耐腐蚀电极(选件);微量电极(选件)

13.温控范围与精度:-5℃~110℃,±0.1℃。

14.pH测量范围:1-14

15.激光源:40mW光泵半导体激光器(可选5mW He-Ne激光器)

16.检测器:高灵敏雪崩型二极管(APD)

17.相关器:4×522个物理通道,4×1011个线性通道,采用动态采样时间及动态延迟时间分配

18.自动趋势分析:对时间、温度及其他参数

19.散射角:15°、90°与173°

20.室温操作情况:10°C ~ 75°C,湿度 0% ~95%, 无冷凝

21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg

22.电源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

23.计算机(选件):商用计算机,包括WindowTM软件

24.自动滴定仪(选件):独立四泵驱动,可对pH值、电导率和添加剂浓度作图

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪 实物图:


 

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