镀层测厚仪-MAXXI 6
镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的*性和高品质。
1、高分辨率的硅漂移器(SDD)
2、开槽式超大样品舱设计
3、8个准直器4、USB接口与计算机连接
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。
镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有*的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。