、产品简介
为了满足大容量、高电压（超高电压）电气设备试验需要，武汉华顶电力设备有限公司专门设计生产HDTP-50HZ工频调感串联谐振耐压试验装置，本升压装置采用串联谐振原理，用可调电抗器与被试设备（容性）的电容或补偿电容相匹配，形成谐振。这样试验电源只承担有功分量，仅为被试所需容量的1/Q倍，试验设备的容量和重量都大大减小。是较为理想的高电压源。
二、主要特点
1.反击过电压和传递过电压保护：本装置以妥善的接线方式、完善的保 护环节和能量的逐级吸收，防止反击过电压和传递过电压的侵害。经过多年的现场实践证明，试品在闪络或击穿时，可避免成套试验装置和在场试验人员不受过电压的侵害和威胁。同时也可避免被试品的故障点在闪络或击穿后不扩大损伤。
2.体积小，重量轻，安装、搬运方便，接线简单，非常适合现场使用人员的操作。
3.调感谐振装置的主要功能有：
（1）电抗器铁芯间隙遥测功能：
本装置在电抗器上安装了间隙传感器，在控制台上可直接读出铁芯的间隙，以指导操作，另外还安装了间隙限位开关及指示。
（2）耐压时间到自动降压功能：
耐压计时采用数显计时器。且当到达耐压时间时，系统会自动降压
（3）零位合闸、零起升压功能：
具有零位限位功能，如果调压器不在零位，高压输出按钮无法合上，保证系统是从零起升压。
（4）过流保护功能：
系统装有电磁式过流继电器，此继电器抗干扰能力强，动作迅速，避免试品不受过流的损伤。
（5）过压及被试品闪络保护功能：
本装置装用电子式过压闪络保护板，避免试品不受过压和闪络的侵害，且动作迅速。
（6）各试验数据实时监测功能：
可以对高压侧电压电流和低压侧的电压电流进行监测，可以更直观地了解试验情况。
三、主要技术指标
1.励磁变压器HDLB-80kVA/4/5/6kV 1台
A:额定容量：80kVA；
B: 输入电压：400V，单相；
C:输出电压：4/5/6kV
D:结 构：干式；
2.操作台HDCT-80kVA/380V 1台
A:额定容量：80kVA；
B:输入电压：380V；
C: 输出电压：0~400V；
D: 保护功能：零位、过流、过压及试品闪络保护；；
3.可调电抗器 HDTB-k-200kVA/50kV 1台
A:额定容量：200kVA
B:额定电压：50kV；
C: 额定电流：4A；
D: 电感量：25~100H
E: 品质因数：Q≥40；
F: 结 构：干式可调；
3.固定电抗器 HDTB-G-200kVA/50kV 3台
A: 额定容量：200kVA
B: 额定电压：50kV；
C: 额定电流：4A；
D: 电感量：25H*2台/35H*1台
E: 品质因数：Q≥40；
F: 结 构：干式可调；
4.电容分压器HDFCR-50kV 1台
A:额定电压：50kV；
B: 测量精度：交流有效值1.5级；
C: 介质损耗：tgσ≤0.5%；
D: 分 压 比：1000：1，分压比误差：≤1.0%；
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对某110kV电缆线路进行时发现其变电站内部分存在局部放电信号，精确定位结果显示局部放电缺陷位于该电缆线路B相GIS终端电缆仓内。随后，对B相电缆仓进行开仓检查并更换电缆终端，更换后异常信号消失。对更换下来的GIS终端进行X光检测和解体发现在环氧套管地电位金属
内衬件端部存在3.9mm不规则气腔，验证了局部放电检测的有效性。
（二）检测分析方法
采用高频局部放电检测仪器对上述110kV电缆终端接地箱进行检测，检测图谱如图5-11所示。由检测图谱可知，在三相电缆接地箱处均能检测到明显的局部放电信号，其中，B相幅值大，达到200mV左右；A、C相幅值较小均在80mV左右。且在同一同步信号下，A、C相放电信号与B相信号极性相反，
表明局部放电信号穿过B相传感器的方向与穿过其他两相传感器的方向相反，即局部放电信号沿着B相电缆终端接地线传播，再经同一接地排传播至其他两相的接地线，因此确定局部放电源位于B相GIS电缆终端。同时，采用特高频传感器和高速示波器对上述局部放电源位置进行了确认。
（a）A相检测图谱（b）B相检测图谱（c）C相检测图谱
图5-11 110kV电缆终端接地箱处高频局部放电检测图谱
采用GE数字化放射摄影系统（CT）对该环氧套管进行X光扫描许昌市工频调感串联谐振耐压试验装置选型，扫描结果如图5-12所示，由图可见，在该GIS终端套管底部内衬件端部存在3.9mm不规则气隙，解体切割后的气隙如图5-13所示。
图5-12环氧套管CT扫描重建横向与纵向断面图
许昌市工频调感串联谐振耐压试验装置选型
图5-13解体切割后的气隙
（三）经验体会
（1）该案例表明高频局部放电检测不仅能发现电缆中间接头的局部放电缺陷，通过在电缆终端接地箱处进行检测，还能有效发现电缆终端甚至GIS仓体内部的局部放电缺陷。
（2）通过对三相高频检测图谱中时域脉冲的极性和幅值分析，可以很容易的辨别出缺陷的相别。
（3）对缺陷设备进行的X光检测和解体分析验证了高频带电检测的有效性，对于该项技术的推广应用具有重要意义。
