MATRIX-F傅立叶近红外光谱仪

MATRIX-F傅立叶近红外光谱仪

实时关注生产过程

      傅立叶近红外分析技术的实时在线监控的优势已*。然而，传统的光谱仪只能安装在靠近监控生产线的地方，这意味着将分析操作人员暴露在高温高湿、噪音、粉尘等恶劣环境中。而且，测量点有时很难接近，甚至是防爆等危险区。

      通过利用光纤技术，MATRIX-F 主机可与实测点相距数百米，将探头直接安装在采样点，大大简化了工业现场测试的难度。此外，当环境特别恶劣时可将主机置于带空调的工业小屋内，这样可以消除温度影响，进一步优化光谱仪的性能，还可以保护 MATRIX-F，防止其遭受过度污垢和灰尘。

效用更大化MATRIX-F傅立叶近红外光谱仪

      MATRIX-F 是可用一台仪器就可对物料进行接触式测量和非接触式测量的光谱仪。有不同的测量附件可供使用：

   光纤探头： 可根据需要配置漫反射、透反射或不同光程长度的液体透射探头，以及流通池或其他试验性装置。还可根据物料性质选择配置不同材质的探头，如不锈钢、哈氏合金或陶瓷。

   非接触式测量的发射探头：非接触式发射探头内置钨灯光源，可以直接照射样本，并将收集的散射漫反射光通过光纤传输至光谱仪。通过这种方式，可以进行远程非接触式测量，实现一系列全新应用。它可以提供多达六个流通池或探头的光纤连接MATRIX-F emission或MATRIX-F duplex。

简要介绍：

      Bruker 的 MATRIX-I 采用傅立叶变换近红外技术，为满足你的质量保证／质量控制需求，提供*的解决方案。
      MATRIX-I 是专为工业现场质量保证／质量控制分析而设计的坚固的傅立叶交换近红外光谱仪。 该系统采用了获得 R&D 100 金奖的 MATRIX-F 光谱仪的设计理念。该仪器配有积分球，可以快速方便地采用漫反射技术进行分析。样品可以在其容器或者是倒入标准的样品杯中直接进行测量。此方法是分析群体样品的理想之选，尤其是在不均匀的样品或大颗粒样品分析中更具显著优势，例如谷物或种子。