仪器简介:TEM 日本200kV场发射透射电子显微镜
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。
TEM 日本200kV场发射透射电子显微镜
利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。
JEM-2100F设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。
SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。
技术参数:
1.点分辨率:0.19nm
2.线分辨率:0.14nm
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角:25
5.STEM分辨率:0.20nm
广州市哲博检测技术有限公司是由国家科研院所改制而成的综合性检测中心,本中心提供各类物质分析测试、危废检测、二恶英检测、成分剖析、配方还原、工业逆向诊断、工业异物分析、材料改性研发、技术咨询服务等。
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作为以化学分析测试的第三方分析测试机构,能全面开展涵盖各个行业领域的理化分析测试,也是国内开展未知物成份剖析和结构鉴定方面经验丰富的测试机构。在化工原料及产品、金属矿物、生态环境、食品农产品、装饰建材等各个行业领域,为广大企业、高校提供了大量的分析测试服务。