紫外可见近红外分光光度计
可覆盖UV-VIS-NIR全波段光谱范围，实现UV-Vis-NIR波段连续扫描，其应用领域广泛，可测量固体／液体样本在紫外-可见-近红外范围内的特征吸收；可研究玻璃镀膜样品吸收／透射或反射光谱；可研究粉末样品在整个紫外可见近红外区的吸收谱图，适合于半导体、光学元件、建筑材料、新型材料等等行业，是功能较强劲的光谱分析仪器。
简单介绍
紫外可见近红外分光光度计（UV-VIS-NIR）可覆盖UV-VIS-NIR全波段光谱范围，实现UV-Vis-NIR波段连续扫描，其应用领域广泛，可测量固体／液体样本在紫外-可见-近红外范围内的特征吸收；可研究玻璃镀膜样品吸收／透射或反射光谱；可研究粉末样品在整个紫外可见近红外区的吸收谱图，适合于半导体、光学元件、建筑材料、新型材料等等行业，是功能强劲的光谱分析仪器。
紫外可见近红外分光光度计 的详细介绍
仪器特点：
1. 采用经典的Czerny-Turner光学结构，其结构简单、精度高、光谱分辨率良好；
2. 采用双光栅、双接收器的设计，保证了仪器工作波段可覆盖紫外可见、近红外区（UV-VIS-NIR）全波段的优势；
3. 接收器件均为进口器件，保证了仪器的高性能和稳定度；
4. 仪器的控制（如光栅转换、滤光片转换、接收器转换、波长扫描等）全部由计算机控制，接口为 USB2.0，仪器的连接简单，*的提高了通讯速率；
5. 狭缝宽度7档可选，分别是（0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm）。用户可根据实际需要任意选择。
6. 全中文操作软件，功能选择简单、易懂。
规格参数：
工作波长范围 | 190-2800nm |
扫描方式 | 透过率、吸光度、反射率、能量 |
波长准确度 | ±0.5nm（UV/VIS）;±8nm（NIR） |
波长重复性 | 0.3nm(UV/VIS)； ±4nm（NIR） |
采样间隔 | 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm |
光度范围 | 0.300～2.5A |
光度准确度 | ±0.3%T（0-T） |
光度重复性 | 0.2%T |
基线平直度 | ±0.008A（200-2500nm，预热30分钟后） |
光谱带宽 | 0.2nm-10nm |
杂散光 | ≤0.2%T（220nm） |
外形尺寸 | 830*600*260mm |
