AE8500 光谱分析仪
是德力公司推出的一种用于光纤信号光谱分析的衍射光栅光谱分析仪，工作于1250nm至1650nm波长范围内，大分辨率可达60pm，测量功率＋25dBm，功率灵敏度低至一80dBm。
产品介绍AE8500 光谱分析仪
AE8500是德力公司推出的一种用于光纤信号光谱分析的衍射光栅光谱分析仪，工作于1250nm至1650nm波长范围内，大分辨率可达60pm，测量功率＋25dBm，功率灵敏度低至一80dBm。
AE8500丰富的专业APP应用，可用于半导体激光器（ DFB、 FP）光谱特征测量、 WDM系统测试、 EDFA系统参数测试、 透过率和漂移测试。 AE8500*的稳定性和可靠性，极快速的光谱扫描速度，开放的数据输出，可帮助您完美应对来自光谱测试的各种挑战。
AE8500系列主要技术指标AE8500 光谱分析仪
| 光谱测量 | ||||
| 波长范围 | 1250nm~1650nm | |||
| 分辨率带宽 | 0.06nm | |||
| 分辨率设置 | 0.06nm、0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm | |||
| 波长精度 | ±0.05nm | |||
| 波长可重复性 | ±0.01nm | |||
| 波长线性度 | ±0.01nm | |||
| 屏幕小分辨率 | 0.005nm | |||
| 功率测量 | ||||
| 输入功率范围 | +25～-80dBm | |||
| 大峰值输入功率 | ±26dBm | |||
| 功率精度 | ±0.5dB | |||
| 功率线性度 |
±0.07dB | |||
| 光衰减率 | 38～42dB（±0.2nm）；46～52dB（±0.4nm） | |||
| 采样点数 | 80000 | |||
ORL | >35dB | |||
| 偏振相关性 | ±0.05dB | |||
| OSNR测试动态 | >35dB | |||
| OSNR测试不确定度 | ±0.5dB | |||
| 扫描速度 | 0.8s/400nm | |||
| 通用技术规格参数 | ||||
| 显示 | 12.1in 1280×800点阵 TFT 触摸屏 | |||
| 接口 | USB2.0 ×4， USB供电 DC5V±0.05V@500mA；RJ45×1， LAN，10M/100M，RS232-DB9；SD×1，支持大32G | |||
| 光接口 | 单模光纤UPC标配 APC选配；FC标配 SC选配 | |||
| 存储 | 8GB内存；8GB SD卡 | |||
| 工作温度 | 0～50℃ | |||
| 存储温度 | -20～60℃ | |||
| 电源 | 交流：90-240V 1.5A 50~60Hz；直流：12V 2.5A 大 | |||
| 光谱测量 | ||||
| 波长范围 | 1250nm~1650nm | |||
| 分辨率带宽 | 0.06nm | |||
| 分辨率设置 | 0.06nm、0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm | |||
| 波长精度 | ±0.05nm | |||
| 波长可重复性 | ±0.01nm | |||
| 波长线性度 | ±0.01nm | |||
| 屏幕小分辨率 | 0.005nm | |||
| 功率测量 | ||||
| 输入功率范围 | +25～-80dBm | |||
| 大峰值输入功率 | ±26dBm | |||
| 功率精度 | ±0.5dB | |||
| 功率线性度 |
±0.07dB | |||
| 光衰减率 | 38～42dB（±0.2nm）；46～52dB（±0.4nm） | |||
| 采样点数 | 80000 | |||
ORL | >35dB | |||
| 偏振相关性 | ±0.05dB | |||
| OSNR测试动态 | >35dB | |||
| OSNR测试不确定度 | ±0.5dB | |||
| 扫描速度 | 0.8s/400nm | |||
| 通用技术规格参数 | ||||
| 显示 | 12.1in 1280×800点阵 TFT 触摸屏 | |||
| 接口 | USB2.0 ×4， USB供电 DC5V±0.05V@500mA；RJ45×1， LAN，10M/100M，RS232-DB9；SD×1，支持大32G | |||
| 光接口 | 单模光纤UPC标配 APC选配；FC标配 SC选配 | |||
| 存储 | 8GB内存；8GB SD卡 | |||
| 工作温度 | 0～50℃ | |||
| 存储温度 | -20～60℃ | |||
| 电源 | 交流：90-240V 1.5A 50~60Hz；直流：12V 2.5A 大 | |||
