Asteria系列光度计
适合于亮度、照度和Flicker闪烁测量。基于我们已有的成熟平台，Asteria是专门为需要内置强大计算能力、易于产线集成和快速得到测试结果的产线应用开发的。
Asteria系列光度计适合于亮度、照度和Flicker闪烁测量。基于我们已有的成熟平台，Asteria是专门为需要内置强大计算能力、易于产线集成和快速得到测试结果的产线应用开发的。
Asteria系列光度计
Asteria可以提供两种配置：镜头配置可以用于测量亮度(cd/m²)和flicker。余弦校正探头配置可以用于测量照度(lux)和flicker。
Asteria系列特点：
亮度或者照度测量，探测器响应匹配人眼响应曲线（CIE1931）
支持液晶行业(Contrast,JEITA,VESA)和灯具行业(percentage, Index)所有6种flicker计算方法.
所有计算仪器内部完成，包括JEITA，便于系统集成
得益于高速的采样频率和大的内存，可以同时测量高频信号和低频信号（比如1Hz）
支持外部触发功能，适合产线应用
支持大部分的编程语言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等
USB和RS232通讯接口
基本参数
探测器 | 硅光二极管 |
光谱响应 | 接近CIE1931色度匹配曲线 |
测量参数 | 亮度, 照度, Flicker, 响应时间 |
光学系统 | 接收角度5°(±2.5) |
测量光斑尺寸 | 12mm@50mm工作距离；19mm@100mm工作距离 |
测量速度 | 180,000 次/秒. 仪器内存可存储250,000 个测量数据. |
长、宽、高 | 69x31x93 mm (不含镜头部分) |
固定方式 | 仪器各面都有12xM3 螺孔 |
重量 | ~0.35 kg |
测量参数
参数 | 范围 | 准确性 | 重复性 |
分辨率 | 15bit for X,Y and Z | >78dB | |
亮度(Y) | 0.002cd/m2-15000cd/m2 积分时间1ms-5s之间 | ±4%测量值 | Y:±0.2% for Y at 0.1cd/m2 |
Y:±0.1% for Y at 1cd/m2 | |||
Y:±0.05% for Y at 5cd/m2 | |||
Y:±0.03% for Y at 150cd/m2 | |||
测量速度 | 4-10次/秒(0.1cd/m2); 10-20次/秒(1cd/m2); 20-100次/秒(>5cd/m2); | ||
Flicker (contrast method) | 1cd/m2或更高亮度 | ±2% Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1% |
Flicker (Jeita method) | 1cd/m2或更高亮度 | ±2dB Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1dB |
工作温度 | 10-35℃ | ||
