DAGE Quadra 3 X光检查机
Quadra 3 可用于高放大倍率下的高质量X射线检测，实现各类生产应用的质量控制。可检测各种制造缺陷 ， 包括BGA、QFN和IGBT焊接，PTH填充，界面空洞，元器件开裂和伪造产品。
清晰而易于识别的图像可快速显示缺陷。Nordson DAGE的 Aspire FP 探测器由自主设计和制造，专用于电子样品检测。
Quadra 3 规格参数
QuadraNT X 射线管
类型：密封式透射管
特征分辨率：0.95微米
蕞大功率：10瓦
电压：30-160千伏
Aspire FP 探测器
分辨率：140万像素
帧率：10 帧/秒
像素点间距：75 微米
数字图像处理：16比特
检测
倾斜视角图：2 × 70 - 无需旋转样品
减振系统：被动
显示分辨率：94像素/英寸
检测区：510 x 445 毫米 (20 x 17.5 英寸)
几何放大倍率：2000 倍
总放大倍率：7500 倍
样本重量(标准盘)：5千克(11磅)
显示器：单，24寸，宽屏扩展图形阵列，分辨率为 1920 x 1200
系统
尺寸： 1570(宽) x 1500(深) x 1900(高)毫米
系统重量：1950千克 (4300磅)
电源：单相200-230伏(交流)，50/60赫兹，16安
典型耗电量：1千瓦
运行温度：10-30oC
湿度：<85％(非冷凝)
操作系统：Windows 10 64位
X射线安全性：X射线泄漏量小于 1μSv/hr
