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模拟静电CDM试验机HANWA阪和电子工业
是与日本、海外的规格对应的可靠性高的装置。（JEITA/ESDA/JEDEC规格对应）通过更换放电电路的单元来支持国内外的规格测试。可以测量设备各端子容量。测量数据可以作为文本文件保存。
模拟静电CDM试验机HANWA阪和电子工业
模拟静电CDM试验机HANWA阪和电子工业
CDM试验机 型号：HED-C5000R
是与日本、海外的规格对应的可靠性高的装置。（JEITA/ESDA/JEDEC规格对应）通过更换放电电路的单元来支持国内外的规格测试。可以测量设备各端子容量。测量数据可以作为文本文件保存。
CDM试验机 型号：HED-CB5000
是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的CDM试验相同的试验。
全自动Wafer ESD测试仪 型号：HED-W5300D
WaferESD测试仪HED-W5300D比以往的产品HED-W5100D进化得更厉害，可以自动控制搭载Wafer的阶段。
即使是300mm级别的Wafer，只要将Wafer放在舞台上，就可以简单地进行测定。
工作效率肯定会大幅提高。
另外，和以前的产品一样，可以对一般的包装品进行试验。
全自动Wafer ESD测试仪 型号：HED-W5100D
从LED用到系统LSI的大口径Wafer，可以应用HBM和MM。
施加ESD后，也可以通过V/I测量进行破坏判定。此外，还可与ESD测试等TLP测试装置同时使用。对于ESD测试中出现问题的设备，有效地获得保护电路的动作参数。
是与日本、海外的规格对应的可靠性高的装置。（JEITA/ESDA/JEDEC规格对应）
高性能Manual Wafer ESD测试仪 型号：HED-W5000M
高性能Manual Wafer ESD测试仪
操作机器人，可以简单地对准2针之间的位置。
施加脉冲后，可以通过Vf/Im测量进行破坏判定。
