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  • 分光测色计(分光式、侧面测量口)CM-3600A/3610A-色差仪

分光测色计(分光式、侧面测量口)CM-3600A/3610A-色差仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号
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  • 更新时间2020-09-04
  • 厂商性质代理商
  • 入驻年限1
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  • 产品数量448
  • 人气值2375
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公 司 简 介

惠州市华高仪器设备有限公司成立于2012年,是专业经营进口、国产品牌仪器设备的高科技含量的民营企业。公司致力于新技术开发、创新,不断推出适用于电子市场需求的测试仪器、设备。   

 

经营主要产品:XRF测试仪、RoHS检测仪、x射线仪器、色谱、质谱、光谱、表面分析仪、直读光谱仪、元素分析仪、无损检测仪、三坐标测量系统、TVOC检测仪、气体分析仪、滴水角测试仪、测色仪、环境试验设备、玩具安全测试仪等仪器仪表。

 

经营主要品牌:SPECTRO、赛默飞世尔、日本日立、海克斯康、华唯计量等在中国区的*代理商,以及日本岛津、瑞士万通、等品牌在华南主要经销商。日本三丰,奥林巴斯、蔡司、美国博曼、美国伊诺斯、牛津、德国斯派克、日本美能达、美国Interscan、思瑞测量、七海测量、西安力德、爱斯佩克惠州特约经销商。  

 

公司本着专业为上、服务为先、诚信为本、踏实敬业、载誉天下的经营理念。在已有成绩的基础上,近年来一直不断拓宽产品线,提高销售人员素质,建设完善售后服务团队,致力于将国内外较好的产品*给用户,并把客户的满意度作为公司的Z高荣誉;公司经过数年耕耘,已经拥有数量众多的用户。热忱欢迎广大新老客户前来洽购、指导!

 

惠州市华高仪器设备有限公司

地址:惠州市江北惠州大道9号佳兆业中心

http//www.highect.com

Tel:0752-7168848/186-7522-8366

0752-2778117

 

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分光测色计(分光式、侧面测量口)CM-3600A/3610A-色差仪 产品详情

在保持高精度、高性价比的基础上,传统机型CM-3600d/3610d成功升级,闪亮登场

一、产品信息

产品概要

可靠的精度、优良的再现性

使用10nm波长间隔测量360nm~740nm全范围波长。采用双波束方式、双通道传感阵列实现高精度和高再现性。

人体工程学设计,操作方便

通过取景器,可直接确认测量位置。
此外,确认样品的测量位置时采用明亮的白色LED灯,与传统机型CM-3600d相比,取景器的能见度显著提高。

致力于免维修化的高可靠性设计

通过技术革新实现SCI/SCE之间的切换,并将滤光器等部件的移动减至小。在设计和产品校准中引入了*质量管理体系,使产品具有高可靠性和耐用性。

紧凑*的设计

尽管内置了6英寸大型积分球,CM-3600A仍然具有时尚紧凑的外观。

具有3种测量口径

可根据样品尺寸选择的测量口径。

改进了样品夹

新增样品夹阻尼复位设计,使其不易损伤样品。由于可以保持90°打开状态,较厚样品的定位也变得简单易行。
可测量A4尺寸大小的样品的中间部位。

防止电源开关的错误操作

在电源开关的两侧设置隔板,以防不慎触碰到开关。

接口支持USB

采用USB通信。

支持RoHS

遵守要求排除有害化学物质的欧盟环境法规"RoHS指令",是一种环保型产品。

主要用途

· 各行业的研发和质量管理部门

· 大学、实验室、检查机构

主要特点

可同时测量SCI和SCE

通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE,仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是,无需在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换,这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化,因此可提供稳定的测量数据。

可进行荧光色的测量

包含UV的光源和筛除UV的光源依次发光,可获取包含UV的光源下的样本数据和不包含UV的光源下(400nm或420nmUV截止滤光片)的样本数据。
也可轻松获取任意光源下的数据(UV调整)。任意光源下仅需测量已知分光反射率数据的标准荧光样本,即可完成UV校正。UV校正后可获取相应光源下的样本数据。由于无需对UV截止滤光片移动引起的尝试错误进行UV调整,大大缩短了测量时间。

发射色和投射色可在1台仪器测量

可对不透明样品的反射率、透明液体或固体的透射率、塑料类半透明物体的漫射透射率等各种样品进行测量。

反射测量
符合JIS、ISO、DIN、CIE、ASTM的di:8°、de:8°(漫射照明、8° 接收)方式

与CM-3600d的数据有兼容性

照明/受光系统与传统机型CM-3600d一样,具有数据兼容性,因此原CM-3600d用户可继续使用现有数据库。

电脑控制下精确可靠的台式仪器

可通过Windows系统软件加以操作。

测量口径为 Φ25.4mm、Φ8mm、Φ4mm

可靠的精度、优良的再现性

使用10nm波长间隔测量360nm~740nm全范围波长。采用双波束方式、双通道传感阵列实现高精度和高再现性。

致力于免维修化的高可靠性设计

通过技术革新实现SCI/SCE之间的切换,并将滤光器等部件的移动减至小。在设计和产品校准中引入了*质量管理体系,使产品具有高可靠性和耐用性。

具有3种测量口径

可根据样品尺寸选择的测量口径。

主要用途

· 各行业的研发和质量管理部门

· 大学、实验室、检查机构

主要特点

可同时测量SCI和SCE

通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE,仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是,无需在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换,这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化,因此可提供稳定的测量数据。


可进行荧光色的测量

包含UV的光源和筛除UV的光源依次发光,可获取包含UV的光源下的样本数据和不包含UV的光源下(400nm或420nmUV截止滤光片)的样本数据。
也可轻松获取任意光源下的数据(UV调整)。任意光源下仅需测量已知分光反射率数据的标准荧光样本,即可完成UV校正。UV校正后可获取相应光源下的样本数据。由于无需对UV截止滤光片移动引起的尝试错误进行UV调整,大大缩短了测量时间。

可进行各种样本测量


与CM-3600d的数据有兼容性

照明/受光系统与传统机型CM-3600d一样,具有数据兼容性,因此原CM-3600d用户可继续使用现有数据库。

电脑控制下精确可靠的台式仪器

可通过Windows系统软件加以操作。

测量口径为 Φ25.4mm、Φ8mm、Φ4mm

关键词:标准
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