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提高系统测量频宽的同时,又可免遭静电破坏成为现实！
强的抗静电破坏能力，适合车间产线和实验室使用。
系统频宽可达4.5GHZ-20GHZ,可精确测量板内阻抗。自动产生阻抗测量报告，包括阻抗平均值、大值、小值、公差以及测试图形等。
PCB材料测试，介电常数DK和介电损耗因数DF。天线测量，S参数、驻波比和反射系数。搭配GGB探头可实现Intel的单端对差分插入损耗SET2DIL测量眼图测量高达16.0 Gb/S
依照客户需求可以选择半自动或自动测试机台，*实现车间高效率测量
信号完整性设计和验证的三大突破:
1.简单而直观的操作界面
2.*的抗静电破坏能力
3.多功能综合测试机
系统频宽高达20GHz,上升时间达到22.3ps（10%到90%）, 依据IPC650 2.5.5.7Z中关于上升时间、分辨率和阻抗线的关系，可以精确测量较短线长的阻抗。
内置ESD保护电路，可以防御3KV的ESD和±30V的EOS, 保护仪器的免受静电打坏，大大降低维护成本。实时动态的阻抗测量，无需进行多次平均而抑制噪声即时显示阻抗测量结果，搭配可调间距测试探头，更便于测试小间距的PCB 和FPC 板。
更加人性化的智能中文阻抗机测量软件简易操作界面，可实时直接输出阻抗测试报告(包括 阻抗机序列号、阻抗大值、小值、平均值、 测试日期等)，还可以输出测试曲线画面以及每 个阻抗点的阻抗值。脚踏开关控制，能够快速进行测量，提高测量速率。
1.通过分析仿真的眼图，可以深入了解高速互连器件的性能。
2.眼图数据速率高达16.0 Gb/s.可得到精度非常精确的
3.眼图，和用码型发生器的测量结果*一致。
4使用虚拟码型发生器，可产生符合行业标准的(PRBS, K28.5)或用户定制的码型。
5.预定义眼图模板，可对各种高速串行器件的规范标准进行测量。
6.对测量结果进行综合处理即可得到眼图，无需购买仪表产生数字比特序列。
7.通过插入抖动信号对真实信号进行仿真。
搭配半自动或全自动测试系统及其PCB板对应的夹具，可以批量性、高率以效的测试阻抗，可以自动产生测试告，自动打印问题阻抗板信息，大大的节约时间和人力成本。
ENA-TDR SET2DIL满足如Intel： SET2DIL （Singleended TDR to Differential Insertion Loss）传输线损耗等测试要求。配套使用GGB公司Picoprobe型40A-GSSG-450-TLD探头（符合IPC规范）和我司开发的中文SET2DIL测试软件，依据IPC-TM-650方法2.5.5.12A）即可轻松准确测量SET2DIL。
高性能ENA-T DR搭配材料测试软件及QWED谐振腔冶具，针对Df及Dk测试提供*的动态范围和测试精度，且测试结果可以各种格式的图表显示，包括:er', er", tan delta, ur1, ur", tan um.ａnd Cole-Cole.
系统规格：
★测量范围:0-150ohm（单端）0-300ohm（差动）
★测量精度:± 0.25% @ 50 ohm
★测试长度:6.7mm- 10m
★水平轴显示分辨率:1 ps或0.2mm （0.008"）
★垂直轴显示分辨率:0.01 ohm
★上升时间范围:22.3ps - 300ps可调整
★眼图测试频率:高达16.0Gb/s
★测量模式:单机可提供单端和差分两种测量模式
★ LOSS测试：E5071C+SET2D1L软件和测量治具，可做LOSS测试
★测试速度:差分测试时间仅需约0.7秒（使用内建阻抗测量软件）
