显微领域的高精度检测
通过采用新开发的多毛细管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm（设想FWHM： 17 μm）的基础上，进一步将处理能力提高到了2倍以上。
产品阵容适应各类检测样本
针对检测样本的不同种类，可在下列3种型号中进行选择
测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号
兼顾易操作性与安全性
放大了开口，同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性，并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险，让用户放心使用。
检测部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局，使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。
清晰的样本图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而消除位置偏差，可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外，亦采用LED作为样本观察灯，无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。
新GUI
•将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等，因此登记、整理起来就很方便，从而使得用户可以不走弯路，直接进行检测。
•使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动，逐步引导用户执行当前所需进行的工作。
FT150系列参数：
| FT150 | FT150L | FT150H | |
| 测量元素 | AL（Z＝13）～U（Z＝92） | AL（Z＝13）～U（Z＝92） | AL（Z＝13）～U（Z＝92） |
| X射线管 | Mo靶材 | ← | W靶材 |
| 管电压：45KV管电流：1mA以下 | ← | ← | |
| 检测器 | Si半导体检测器（SDD） | ← | ← |
| 照射径 | Ф：30μm (FWHM:17μm) | ← | Ф：35μm (FWHM:20μm) |
| 样品观察 | CCD摄像头 | ← | |
| 样品尺寸 | 400mm×300mm×100mm | 600mm×600mm×20mm | 400mm×300mm×100mm |
| 样品重量 | 10Kg | ← | ← |
| 应用程序 | 定性分析 | ← | ← |
| 薄膜检量线（单层、2层、2成分合金单层膜） | ← | ← | |
| 薄膜FP法（最多可测量5层、10个元素）等 | ← | ← | |
| 报告功能 | Microsoft Word/Excel | ← | ← |
| 电源 | AC100-240V | ← | ← |
| 仪器尺寸 | 930mm×900mm×710mm | 1030mm×1200mm×710mm | 930mm×900mm×710mm |
| 仪器重量 | 约160Kg | 约170Kg | 约160Kg |
