我们的单点开尔文探针系统采用非零信号检测方法对材料的功函数/费米能级进行非常高质量的测量。单点开尔文探针系统
单点开尔文探针系统
单点开尔文探针系统采用经济的配置使用户能够快速记录非扫描数据，专用软件允许对所有参数进行全数字控制，以符合被调查样品的准确要求。记录的数据很容易输出到分析软件。
单点开尔文探针系统KP020对于快速事件可以以每分钟超过300次工作功能测量的速率记录工作功能，或者单点开尔文探针系统将跟踪数天内缓慢的工作功能演变。单点开尔文探针系统KP Mini系统提供了相同的功能，但在我们的300 x 300 mm光学外壳中，占地面积减少了55%。
单点开尔文探针系统应用
有机和非有机半导体
金属和金属合金
薄膜和表面氧化物
腐蚀与纳米技术
太阳能电池与有机光伏
附加组件
扫描开尔文探针系统
相对湿度控制和氮气环境室
环境压力光电发射光谱（APS）
样品加热器至250°C
表面光电压谱（400-1000nm）
表面光电压（QTH或LED）
用开尔文探针测量功函数
单点开尔文探针系统应用
1-3mev的功函数分辨率
用于升级和附加组件的模块化系统
经济、进入系统
USB版本即插即用
非零信号检测系统
单点开尔文探针系统规格参数
单点开尔文探针系统KP020对于快速事件可以以每分钟超过300次工作功能测量的速率记录工作功能，或者单点开尔文探针系统将跟踪数天内缓慢的工作功能演变。单点开尔文探针系统KP Mini系统提供了相同的功能，但在我们的300 x 300 mm光学外壳中，占地面积减少了55%。
单点开尔文探针系统应用
有机和非有机半导体
金属和金属合金
薄膜和表面氧化物
腐蚀与纳米技术
太阳能电池与有机光伏
附加组件
扫描开尔文探针系统
相对湿度控制和氮气环境室
环境压力光电发射光谱（APS）
样品加热器至250°C
表面光电压谱（400-1000nm）
表面光电压（QTH或LED）
用开尔文探针测量功函数
单点开尔文探针系统应用
1-3mev的功函数分辨率
用于升级和附加组件的模块化系统
经济、进入系统
USB版本即插即用
非零信号检测系统
单点开尔文探针系统规格参数
| KP020 | KP Mini | |
| Tip material/diameter | Standard 2 mm gold tip (other sizes and materials available on request) | |
| Work function resolution | 1 - 3 meV | |
| Probe translation | 25 mm manual translation | |
| Visualisation | Single-point work function/contact potential difference measurement | |
| Oscilloscope | Digital TFT oscilloscope for real time signal | |
| Test sample | Gold and aluminium test sample | |
| Control supplied | PC control with dedicated software for fill digital control of all parameters | |
| Height regulation | Through DC probe adjustments | |
| Detection system | Off-null with parasitic capacity rejection | |
| Faraday/optical enclosure | 450 mm x 450 mm | 300 mm x 300 mm |
| Optical system | Colour camera with zoom lens and monitor | |
| Warranty | Twelve months | |
单点开尔文探针系统
