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仪表网>产品库>测量/计量>光学测量>影像测量仪>Leica DM1750 M 材料分析显微镜 影像测量仪
  • Leica DM1750 M 材料分析显微镜 影像测量仪

Leica DM1750 M Leica DM1750 M 材料分析显微镜 影像测量仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号LeicaDM175
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2022-12-04
  • 厂商性质代理商
  • 入驻年限9
  • 实名认证已认证
  • 产品数量89
  • 人气值770
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  • 公司代理的仪器设备包括:工业X射线机、工业CR、DR、CT、胶片、洗片机、超声波探伤仪、超声波相控阵检测仪、超声波TOFD探伤仪、测厚仪、硬度计、导波、声发射、汽车点焊超声检测仪、汽车*工业扩张器、电磁超声、空气耦合超声波设备、激光超声检测系统、涡流探伤仪、涡流阵列检测仪、磁粉和渗透探伤相关产品、工业内窥镜、显微镜、光谱/合金分析仪、常规/相控阵水浸超声波检测系统、大型板管棒超声波检测系统、数字射线实时成像检测系统、红外热像仪及其它材料分析、实验室设备等。
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广州坤厚检测技术有限公司 从成立之初,就一直致力于向广大用户提供*的检测设备、具针对性的应用解决方案、优质高效的售后服务。*以来,依托高素质的技术人员和销售队伍,本着严谨、求实的技术理念和诚信守法、客户*、质量*的经营原则,以良好的信誉、周到的服务,赢得了国内外广大用户的信赖和好评。我们的产品及系统应用于各种工业领域,涵盖:航空航天、核能电力、钢铁冶金、石油化工、特种设备、教育科研、汽车制造、铁路交通、船舶制造、机械制造、*、建筑、环保等行业。

为了更好的服务客户,我们除总部广州外,还在北京、上海、哈尔滨、南昌、成都设立了办事处。

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材料分析显微镜LeicaDM1750M当我们集中于材料实验室或科学研究的任务时,全新的徕卡DM1750M是一台设计用于迅速,精确分析出结果的显微镜,即使是在粗陋的周围环境中
Leica DM1750 M 材料分析显微镜 影像测量仪 产品详情

材料分析显微镜 Leica DM1750 M

当我们集中于材料实验室或科学研究的任务时,

全新的徕卡 DM1750 M 是一台设计用于迅速,精确分析出结果的显微镜,即使是在粗陋的周围环境中。

使用徕卡 DM1750 M ,您会发现, 显微技术是多么简单而可靠。它的设计包含了一个优秀的光路,即是针对较大的样品,也可以通过明场,倾斜光或者偏光进行观察。 整个反射光光源采用强力LED照明, w还可以通过不同照明角度来观察,特别适用于检查微观划痕,或获取样品高度方面的信息。

Leica DM1750 M

为材料实验室的常规质检带来高性价比解决方案

专注于质检实验室的常规任务需要

新型的 Leica DM1750 M 材料显微镜不仅能提供快速、精确的

测量结果,还能胜任恶劣的工业环境。

坚固耐用的 DM1750 M 整合了一种高性能光学系统,能够检验

各种类型的样品。

基于大功率 LED 的反射光照明装置提供高亮、均匀且色彩自

然的照明,能令测量结果更加出众。此外,照明轴能够改变照

明角度,创造出一种浮雕效果 (或称为三维效果),有助于检测

微小划痕或者获取相对高度信息。


为您带来的优势


照明

LED 照明配合内置可调节光阑,提供了可达20年使用寿命白色的冷光,

从而节省了未来20年更换灯泡的成本。

精确的放大倍数切换

6- 或者 7-位置物镜转盘用来快速便捷地改变物镜放大倍率,并可容纳达80毫米的样品。高度精准的物镜转盘机械精度保证了所有被使用物镜的对中性。

通过倾斜光可以观察更多

通过直接的操作在薄膜按键上,四盏 LED灯就能效能地发挥倾斜光照明在您样品上功能

超硬陶瓷载物台表面

我们工业载物台的表面采用了全新的高科技陶瓷材料,达到了的硬度标准。可以承受多年的繁重工业日常试验要求,节省您许多时间和费用。











Oblique illumination

For a quick surface inspection of your metal samples the oblique illumination is integrated with every Leica DM1750 M. By pressing one of the OBL buttons on the right side illumination keyboard, the oblique illumination is activated and the light arrives with a deviation angle of the beam path onto the sample – fast, reliable, and with topographic information e.g. for the detection of scratches or particles.


关键词:显微镜 标准
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