LY-DR320 固体粉末漫反射率测量系统
本系统采用波长连续可调单色光源和积分球整合而成，测试光为垂直光路，样品盛放装置为小型抽屉式样品盒，方便放置粉末类样品，易于替换。
技术规格：
■ 光谱测量范围：350-2500nm
■ 光谱分辨率：≤2nm
■ 光谱扫描步距：0.2-10nm可连续设置
■ 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm（近红外区）
■ 测量误差：≤1%（紫外-可见区），≤2%（近红外区）
■ 重复性：≤1%
■ 测试光轴与试样夹角：不大于10°
■ 样品尺寸(典型)：≤ Ø10(D) *3(H)(mm)
LY-DR150 平面材料漫反射率与透射率测量系统
本系统结构与LY-DR320相同，但测试光为由下至上8 度角聚焦光路，样品盛放装置为160x160mm平台，方便放置各类平面材料，如各类功能性布料。同时，系统整合透过率测量探测器，可测量厚度为5mm以下的各类透光材料，可将各类透光器件的漫反射率与透过率测量整合成一体。
技术规格：
■ 光谱测量范围：350-2500nm
■ 光谱分辨率：≤2nm
■ 光谱扫描步距：0.2-10nm可连续设置
■ 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm（近红外区）
■ 测量误差：≤1%（紫外-可见区），≤2%（近红外区）
■ 重复性：≤1% (450nm-1800nm)
■ 样品尺寸(典型)：直径≥15mm，若同时测试透过率，则样品厚度须＜5mm
除了漫反射测量系统，我司还提供滤光片、光学镜头透过率测量系统等。
暂无评价