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特点：
实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保证分辨率达到了的58pm
采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达58pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。
ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件
ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
强大的冷场发射电子枪HyperCF300
标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
两种物镜极靴
为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。
丰富的选购件
能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
大范围的加速电压设置
标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。
新开发的真空系统
新的排气系统达到了*的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，限度地减轻了对样品的污染和损伤。
高稳定的镜筒和样品台
整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗力提高到新高度。
规格：
| 分辨率 | 300 kV，80 kV | |
| 物镜种类※1 | UHR极靴 | HR极靴 |
| STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器 | 0.058nm | 0.063nm |
| TEM分辨率（300 kV） | 线分辨率0.05nm | 线分辨率0.06nm |
| 使用TEM校正器 | 非线性信息分辨极限0.06nm | 非线性信息分辨极限0.07nm |
| 线性信息分辨极限0.09nm | 线性信息分辨极限0.12nm |
