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仪表网>产品库>测量/计量>粒度仪>Zeta电位仪>Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪
  • Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪

Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2022-05-18
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限5
  • 实名认证已认证
  • 产品数量36
  • 人气值4056
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珠海真理光学仪器有限公司专注于颗粒表征和分析仪器的研发和生产,公司聚集了多位在颗粒学和粉体技术领域具有丰富经验和工作成就的精英人才,其专业涵盖颗粒表征技术的基础理论研究、应用技术开发、产品制造、技术支持和商业运营服务。
       真理光学技术团队具有超过二十年粒度表征及应用开发的经验,曾研发出中国*台商用激光粒度分析仪。LT3600系列是真理光学基于多年的科研成果并融合多项技术开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统,为激光粒度分析行业树立了新。LT3600系列粒度仪被广泛用于磨料,制药,化工,电池材料,地质,水文等行业的颗粒粒度表征分析。 Nanolink S900是真理光学基于动态光散射原理研发的新一代高速纳米粒度分析系统,被广泛应用于有机及无机颗粒、乳液、高分子聚合物、表面活性剂、胶束、病毒抗体、蛋白质等样品的颗粒表征。多年的科学研究和激光衍射技术创新成果,为测量和分析高速喷雾的粒度奠定了基础。喷雾颗粒的高速运动,粒径范围宽及雾场的不规则,要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和高速衍射信号的处理能力。Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计,以实现对喷雾粒度进行准确的分析。
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NanolinkSZ901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统,采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析
Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪 产品详情

Nanolink SZ901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统,采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。

Nanolink SZ901的杰出性能和主要特点包括:

经典90°动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm – 15μm

激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性

加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C

新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

冷凝控制 干燥气体吹扫技术

型号

Nanolink SZ901

测量原理

动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)、电泳光散射(ELS)

粒径测量角度

90°

粒径测量范围

0.3nm -15μm*

粒径准确度

优于±1% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)

粒径重复性

优于±1% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)

粒径测量最小样品浓度

0.1mg/ml

粒径测量最小样品量

3ul*

Zeta电位测量范围

-600mV - +600mV

电导率

270mS/cm

适用Zeta电位测量的粒径

3nm – 100μm*

电导率准确度

±10%

分子量范围

340Da-2 x 107Da

温度控制范围

0°C - 90°C (120°C可选)

温度控制精度

±0.1°C

光源

集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器

相关器

高速数字相关器,自适应通道配置

检测器

高灵敏度APD

系统重量

17kg

外形尺寸

365mm x 475mm x 180mmLxWxH

注:取决于样品及样品池选件

关键词:标准
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