RQCM - 石英晶体微天平研究系统
晶体频率、质量和电阻测量
RQCM 是一种非常*的方法,用于测量薄膜在沉积、溶解或渗透过程中的性能。*多可以同时测量 3 颗晶体,质量分辨率小于 0.4 ng/cm2。所有数据都使用集成的基于 Windows 的软件实时加以记录并以图形显示。
功能
- *多同时测量 3 颗晶体
- 测量分辨率小于 0.4 ng/cm2
- 频率范围:3.8 - 6 MHz、5.1 - 10 MHz
- 支持重荷晶体
- 电容消除
- 电绝缘晶体电极
- 板载数据采集
- 控制输入和输出
- 包括基于 Windows 的集成式软件
研究晶体支架
轻松可靠的晶体更换设计
CHC/CHK/CHT-100 晶体支架设计,可浸入液体中使用。这类晶体支架为用户的 QCM 实验提供了一个坚固耐用且易于使用的石英晶体壳体。无缝结构、三种耐化学腐蚀材料的选择以及采用一个 O 形圈密封晶体的设计都使得这类支架能够在宽广温度范围内的各种气体和液体中使用。可拆卸夹持器允许轻松更换晶体。精致小巧的支架可以使用直径为 1 英寸的传感器晶体。
功能
- 晶体更换方便
- 结构坚固
- 设计小巧
- 与液体兼容