LJD-C型介电常数介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项技术：
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
LJD-C型介电常数测试仪概述：
LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项技术：
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
介电常数介质损耗测试仪主要技术特性：
Q 值测量范围: 2 ～ 1023,量程分档：30100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档
固有误差:≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤6% ± 满度值的2%(10MHz～160MHz)
工作误差:≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ～ 10MHz ),≤8% ± 满度值的2%(10MHz～160MHz)
电感测量范围: 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围: 1 ～ 200pF
主电容调节范围: 18 ～ 220pF
主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信号源频率覆盖范围: 100kHz ～ 160MHz
频率分段 ( 虚拟 ): 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
频率指示误差 :3 × 10 -5 ± 1 个字
介电常数介质损耗测试仪夹具工作特性
1.平板电容器：
极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.测微杆分辨率：0.001mm
配置：
主机一台
电感九支
夹具一套
随机文件一套
