Anasys nanoIR3-s 纳米扫描近场光学成像系统

布鲁克公司是从宏观、亚微米到纳米尺度红外光谱（nanoIR）领域的世界。在纳米尺度下的物理和化学性质等测量方面，我们致力于为聚合物、二维材料、材料科学、生命科学和微电子工业等多个领域提供创新的产品和解决方案。
Anasys 纳米红外光谱仪（nanoIR) 已被多所大学、国家实验室和的化学/材料公司所采用。凭借高影响力和不断增长的研究成果，通过广大客户的实际应用，纳米红外光谱仪表现出了良好的易用性和高效性。

性能的散射式 -SNOM 和 AFM 成像系统

nanoIR3-s系统将散射式近场光学显微镜（s-SNOM）和纳米红外光谱仪（AFM-IR）集成于一台原子力显微镜（AFM）中，所有功能可在一个测量平台上实现。nanoIR3-s系统建立在Anasys的既有技术之上，并在基于AFM的纳米光学表征领域中具有地位，它提供了纳米级的红外光谱分析，化学成像和具有10 nm空间分辨率的光学特性成像功能。该系统还支持纳米级分辨率的AFM形貌成像和材料物理性质成像功能，使其成为用于材料科学应用领域相关研究的理想选择。

nanoIR3-s系统的主要特点:

•  飞秒级宽波带nano-FTIR光谱
• 互补的s-SNOM和AFM-IR技术
• 具有电学、力学和热学测试模块的全功能高分辨的AFM平台

纳米尺度下互补的成像技术

1）散射式近场光学显微镜（s-SNOM）

s-SNOM 应用技术进行近场振幅和相位测量，测量过程中可以将探针定位在样品上的固定位置，并改变光源的波长以提供近场光谱。s-SNOM 的点光谱成像是一项技术，由连续QCL激光器提供近场光谱、近场振幅和相位成像。

2）轻敲模式 AFM-IR

轻敲模式 AFM-IR 利用轻敲模式 AFM 作为传感机构，测量样品表面的光热膨胀分布。具体来说，轻敲模式AFM-IR 可以利用轻敲模式下探针悬臂不同的谐振模式来测量光热膨胀。轻敲模式AFM-IR可以在样品上施加较低的 AFM 作用力，以实现更高的化学成像空间分辨率，对于不同种类的样品，其分辨率可达10nm或更低。

3）共振增强型 AFM-IR

共振增强型 AFM-IR 技术是利用宽带、脉冲、可调谐的中红外激光器自上而下照射样品实现的，脉冲激光被样品选择性地吸收，引起快速和瞬时的局部膨胀，并通过AFM 探针的机械偏转来检测，得到的红外吸收光谱可与傅里叶红外光谱（FTIR）直接对应解读，并可根据现有的红外光谱数据库进行检索。

4）力学性质成像，纳米热学分析和电学AFM模式

nanoIR3-s还可以提供以洛伦兹接触共振技术（LCR）测量AFM悬臂梁的接触共振频率，从而绘制样品的力学性质分布图。nanoIR3-s 还可以通过纳米热学分析技术（nanoTA）在纳米空间分辨率下定量测量样品的热熔点，同时对样品微区进行热性质成像（SThM）。此外，nanoIR3-s 还提供了表面电势测量模块（KPFM）和导电原子力测量模块（CAFM）。