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【产品应用】
扫描电镜广泛用于材料科学（金属材料、非金属材料、纳米材料）、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害（火灾、失效分析）鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。在材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、化学材料等领域，进行材料的微观形貌、组织、成分分析。各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体/晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。
【技术参数】
分辨率：0.8nm@30kV STEM 、0.8nm @15 kV 、1.4 nm @1kV
放大倍数：10-1,000,000×
加速电压：调整范围：0.02-30 kV（无需减速模式实现）
探针电流： 3pA～20nA（100nA选配） 稳定性优于 0.2%/h
低真空范围：2-133Pa（Sigma 500VP可用）
样品室： 358 mm（φ），270.5 mm（h）
样品台：5轴优中心全自动 X＝130mm Y＝130mm Z＝50mm T＝-4°－70° R＝360°
系统控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系统，可选鼠标、键盘、控制面板控制
存储分辨率：32k x 24k pixels
