奥林巴斯BX53M IR红外观察显微镜
可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察
IR物镜可用于透过硅材料成像,进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外(IR)物镜,提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜,配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜,校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。
红外显微镜应用
英菲洛精密科技(苏州)有限公司坐落于苏州高新区科技城,专业从事中汽车零部件清洁度检测设备、光学检测仪器、图像分析设备研发与销售,为国内外客户提供可靠材料测试解决方案。
英菲洛科技拥有一支训练有素的清洁度检测、样品制备,光学及图像分析应用团队,凭借强大的自动化技术和资源整合能力,为汽车零部件,新能源,新材料,半导体、微电子、高校,研究所等行业客户提供高性价比检测产品。
我们三大事业部:
汽车零部件清洁度检测事业部,研发销售高性价比自动清洁度检测设备,本公司在产品开发过程中严格按照ISO16232及VDA19清洁度检测标准执行,现已*替代进口清洁度检测设备,服务各大汽车零部件客户,为传统汽车零部件及新能源汽车行业客户提供整体一站式清洁度解决方案。
材料事业部:代理销售OLYMPUS光学显微镜,徕卡LEICA光学显微镜,TAIMECO金相制样设备,SPECTRO直读光谱仪,INNOVATEST硬度计,HITACHI扫描电镜等检测仪器。
半导体检测事业部:为晶圆、集成电路、封装测试厂提供可靠性检测设备。
奥林巴斯BX53M IR红外观察显微镜
可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察
IR物镜可用于透过硅材料成像,进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外(IR)物镜,提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜,配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜,校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。
红外显微镜应用
产品名称 | 参考价 | 地区 | 公司名称 | 更新时间 | |
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