8XB正置(明暗场)芯片检查显微镜
■产品用途
正置(明暗场)芯片检查显微镜广泛的应用于透明,半透明或不透明物质,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。
■显微镜技术规格
1.镜筒:30°倾斜
2.高眼点目镜:WF10X/Φ25mm
3.无限远长工作距离明暗场物镜:5×/0.1B.D/W.D.29.4mm
10×/0.25B.D/W.D.16mm
20×/0.40B.D/W.D.10.6mm
40×/0.60B.D/W.D.5.4mm(选购)
50×/0.55B.D/W.D.5.1mm
100×(干)/0.80B.D/W.D.3mm(选购)
4.转换器:五孔
5.工作台尺寸:311mm*352mm,移动范围:250mm×250mm
6.调焦:粗微动同轴,范围36mm,微动0.002mm
7.光源:垂直照明,带孔径光栏和视场光栏,卤素灯12V/100W,AC85V-230V亮度可调节
8.DIC装置:偏光装置、明暗场转换
■仪器成套性
1.显微镜主体:1台
2.目镜筒:1只
3.10X目镜:1对
4.无限远长工作距离明暗场物镜5X、10X、20X、50X:各1只
5.随机文件:1套
■选购件
1.目镜:12.5X目镜;10X测微镜、测微尺(格值:0.01mm)
2.无限远长工作距离明暗场物镜:40X、100X(干)
3.300、500万或900万数码摄像头
4.数码适配镜、数码相机
5.专业研究级图像分析软件、计算机
原旧站参数地址:/cp/芯片检查显微镜.htm