Nanosurf CoreAFM原子力显微镜
高性价比紧凑型科研用原子力显微镜
●具有价格优势的科研用原子力显微镜（AFM）
●集成系统，占空间小
●33种模式和功能
●操作使用简单
CoreAFM智能地联合原子力显微镜的核心部件来实现多功能化与方便使用。正是基于这一根本的设计思路, CoreAFM合理地实现了优化AFM的功能。
CoreAFM融合了新型柔性导向扫描头，XYZ样品台，摄像头，主动隔振台和气流屏蔽于一个一体化小型仪器中，使得这一完整的AFM系统具有的紧凑尺寸。该系统配有专为CoreAFM扫描头开发的全数字24位控制器。现代化的AFM的所有功能都是CoreAFM系统的组成部分;要使CoreAFM投入运行，您需要做的就是连接控制器，并插上电源和USB。
易用性
您立刻就会看出设置和操作CoreAFM是多么容易。观看视频，了解主要功能的演示，以及如何使用该系统进行测量的简要教程。
峰值-保护
Isostage的更深层系统集成体现在的 峰值-保护, 可消除成像过程中的毛刺。尽管Isostage是一种主动隔振系统，但当失真太严重时仍会出现毛刺。峰值-保护检测到这种异常并重新扫描线条以获得无失真图像。
功能强大且多样
采用24位ADC和DAC的电子技术可确保100×100×12μm扫描头的高分辨率的XYZ三个轴向的驱动，而且具有于悬臂的低噪声下的力检测。32种标准的和可选的模式与兼容的附件使CoreAFM成为从材料研究到生命科学和电化学等应用的工具。以CoreAFM基本的功能为起点，所有可选功能都可以方便快捷地得到扩展。
闭合的扫描头隔间可以隔离声音和气流，而样品台定位机制
仍允许您调整样品位置
当扫描头隔间打开时，可进入扫描头和样品台，例如放置新样品进行测量
CoreAFM 成像模式
以下描述为仪器所具备的模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。详情请浏览产品手册或直接联系我们。
标准成像模式
静态力模式
横向力模式
动态力模式 (轻敲模式)
相位成像模式
磁学性能
磁场力显微镜
电学性能
导电探针原子力显微镜 (C-AFM)
压电力显微镜 (PFM)
静电力显微镜 (EFM)
开尔文探针力显微镜 (KPFM)
机械性能
力谱
力调制
硬度和弹性模量
黏附力
展开与拉伸
力曲线成像
刻蚀和纳米操纵
电化学原子力显微镜(EC-AFM)
包含的测量模式
CoreAFM开箱就可以实现静态力、动态力、相位成像、磁场力、横向力、力调制、标准力谱和标准刻蚀。您还可以使用CoreAFM模式工具盒来增强您的测量体验。
包含的标准模式工具盒
CoreAFM自配置的静态力模式工具盒, 动态力模式工具盒, 以及 相位成像模式工具盒 可以让您立即开始使用。根据测量模式的不同，模式组件可以包括样品、相配的悬臂、附件或它们的组合。
附加的标准模式工具盒
可单独购买的附加的标准模式工具包包括标准力谱工具盒, 标准刻蚀工具盒, 标准磁力模式MFM工具盒, 标准液体模式工具盒, 横向力模式工具盒, 和 力调制模式工具盒.
CoreAFM 的应用示例
石墨烯的开尔文探针力显微(KPFM)
石墨烯属于二维材料范畴，对新设备和新材料的研发具有重要意义。除了对石墨烯进行原子分辨率成像以了解更多的晶体取向、边缘和缺陷外，石墨烯的功能特性也备受关注。
在本应用说明中，多层石墨烯采用开尔文探针力显微镜(KPFM)成像，使用CoreAFM 研究单个薄片上的接触电位差变化。
用50x NA0.9物镜在直立显微镜上拍摄的光学图像。取图方框:记录石墨烯KPFM数据和AFM图像的区域
CoreAFM相同区域的顶视图
多层石墨烯薄片是通过石墨的机械剥落和随后转移到硅-硅氧化物基体上而产生的。KPFM测量采用单次运行模式，记录形貌扫描过程中的接触电位。
用直立显微镜定位基体上的薄片，做上标记，使用CoreAFM的顶视摄像头将相同的薄片放置在微悬臂下，之后记录石墨烯和KPFM数据的AFM图像。
多层石墨烯薄片的AFM形貌图像上的接触电位差的叠加。
样品:瑞士苏黎世联邦理工学院 Hiske Overweg, Klaus Ensslin,
所有测量均使用配备有来自Nanosensors的PPP-EFMR微悬臂的 CoreAFM系统 进行。处理石墨烯的AFM图像用的是MountainsMap SPM。
平面外压电响应力显微镜(PFM)在铌酸锂上的应用
铌酸锂Lithium Niobite (LiNbO3) 是一种光学透明的压电响应材料，用于压电传感器或手机。我们用CoreAFM测试了LiNbO3样品（PFM03，来自爱沙尼亚TipsNano）。样品具有规则的域结构，周期为10-μm。自发极化在相邻域中具有相反的方向。
为了在成像期间测量压电响应，当光栅扫描样品上的悬臂时，将7.5V AC电压施加到微悬臂上。响应于施加的电压，样品周期性地膨胀和收缩，与激发频率同相或反相。虽然测量到的小的RMS粗糙度为0.3 nm，在形貌上却无法识别这些域结构。然而，在平面外压电响应中可以容易地识别它们。
铌酸锂Lithium Niobate的压电响应力显微图
