功能简介：
本机可以根据用户的要求，选配测试二极管、发光管、稳压管、桥堆、双二极管五大类器件的全部或部分。
Ø 二极管、发光管、桥堆、双二极管测试：
测试VF、IR、VDR的常温值或测试VF、IR、VDR的常温值、高温值、常温与高温变化量（高温测试不需要外加烘箱)。
Ø 稳压管测试：
测试VF、IR、VZ、RZ的常温值或测试VF、IR、VZ、RZ的常温值、高温值、常温与高温变化量（高温测试不需要外加烘箱)。
本机特色：
利用“75”期间快速筛选成果研制，可取代直流老化。方法是本机对器件的VF、IR、VDR（或VZ)进行常温测试后，对器件施加几秒钟的超稳态额定电流，使器件结温迅速接近或达到*高允许结温TjM，再马上检测器件VF、IR、VDR（或VZ) 的高温值及常温与高温的变化量，利用器件热敏参数作为失效判据，剔除热阻大，瞬间热开路，高温漏电流大等热不稳定性器件。同时，所施加的超稳态额定电流模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力。
主要功能：
Ø 中文菜单式界面，操作十分简便。
Ø 器件的型号、测试条件及判据可保存在系统中，并能修改。测试时只需选择器件型号即可进入连续检测，测试口有否被测器件自动识别。
Ø 自动检测器件VF、IR、VDR（或VZ、RZ)的常温值、高温值及常温与高温变化量，并能任意选测全部或部分参数，整个过程只需4秒左右一次性完成。若只测常温参数，每只器件只需0.6秒左右。
Ø 所有测试结果同时液晶数字显示（5.7寸），并标识累计测试总量；超标器件自动声光报警，并显示报警信息。
Ø 5. 自动统计每项参数测试结果的*大值、*小值、平均值。
Ø 器件型号、测试条件、失效判据、检测结果、测试时间及器件编号，可通过打印机打印输出，或通过电脑串行口保存在电脑中。超标器件自动标识。
测试二极管、桥堆技术指标：
| 参 数 名 称 | 测 试 范 围 | 测 试 条 件 |
| 正向压降VF | 0.1-2V | 1mA |
| 反向漏电IR | 0.1uA-1mA | 5-1200V |
| 反向压降VDR | 20-1200V | 1uA-1mA |
加温电流 IT ：
测试稳压管技术指标：
| 参 数 名 称 | 测 试 范 围 | 测 试 条 件 |
| 正向压降VF | 0.1-2V | 1mA |
| 反向漏电IR | 0.1uA-1mA | 1-250V |
| 稳压值VZ | 1—250V | 1—100mA |
| 动态电阻RZ | 10Ω—5KΩ | 1—100mA |
加温电流 IT ：
测试发光管技术指标：
| 参 数 名 称 | 测 试 范 围 | 测 试 条 件 |
| 正向压降VF | 0.1-5V | 1mA |
| 反向漏电IR | 0.1uA-1mA | 1—100V |
| 反向压降VDR | 1—100V | 1uA-1mA |
加温电流 IT ：
测试双二极管技术指标：
| 参 数 名 称 | 测 试 范 围 | 测 试 条 件 |
| 正向压降VF | 0.1-2V | 1mA |
| 反向漏电IR | 0.1uA-100mA | 20-250V |
| 反向压降VDR | 1-250V | 1uA-100mA |
加温电流 IT ：
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