xSORT手持式X荧光光谱仪
斯派克公司在实验室X荧光光谱仪方面，在此基础上又开发出了坚固轻便的手持式SPECTRO xSORT荧光光谱仪，用于现场金属材料的分析和分选。仪器采用高效的激发源和检测器，实现了高精度，快速，安全的现场金属分析。把实验室级别的分析结果和轻松方便的操作方式*地结合在一起。SPECTRO xSORT 可在2 秒钟内分析出从元素周期表Mg 到 Th 的多达41种元素，如要分选铝合金和镁合金则也只需要10秒。无须氦气冲洗或真空系统即可分析Al，Mg，Si和P元素。SPECTRO xSORT 配有可充电电池和保护套。仪器不用时可放在随仪器提供的皮套内，并可背在身上。
xSORT手持式X荧光光谱仪技术原理
试样中被测元素的原子受到来自于X射线管的一次X射线激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定能量的X 射线二次荧光，利用高性能（能量分辨率<160eV）的X 射线硅漂移SDD检测器探测试样中被测元素所发出的各种能量的特征X 射线，根据检测器输出信号的能量高低（波长）和强度来对被测元素进行定性和定量分析。
现场及工作条件
操作环境温度：0 ~ +45 °C; 41 ~ 104 °F
工作湿度：80% max.
防护级别：IP 52
原理及特点
? 可在大气中现场快速无损的（2秒显示牌号和实验室级的分析结果）分析检测并鉴别出各种不锈钢，低合金钢，有色合金，金属等材质中的常量和微量元素含量，检出限可达几个ppm, 并可根据用户需要进行扩展，以满足粉末，矿石，土壤等不同样品更多的分析测试要求，测量元素可达41种。
? 设备体积小，重量轻，分析精度高，一体化程度高，可靠性，集多种应用于一体，特别适用于高精度材料成分快速检测。
? 配有*的Peltier电制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）计数器, 数据处理能力10倍于Si-PIN二极管检测器，可有效防止计数溢出造成的漏计。SDD技术显著减少分析所占用的X射线开启时间，在同样的仪器使用条件下可以测试更多的样品，有效提升工作效率。
? 采用复合滤光片 (多金属复合材料) 设计, 显著减少了由于更换滤波片造成的分析时间的浪费（ 高缩短5倍时间），采用不同的激发条件保证对元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激发效果，减少了操作时间，大幅度降低X射线对操作人员造成伤害的可能性, 是真正意义上的安全的快速无损现场检测设备。
? 配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。可对任何未知的样品进行‘解剖’分析。与其他同类仪器相比，FP更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数千种标准样品，实测结果并予以固化。
? 采用人机功效学原理，一体化的ePC可以完成诸如：仪器控制，测试操作，自动识别，背底扣减，谱峰重叠，堆砌峰/逃逸峰校正，定量计算等操作功能。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。标准USB接口更方便数据传出。
? 具备Interlock安全互锁和硬体快门。如未检测到测试样品，快门互锁装置会于200毫秒内自动关闭快门并同时切断X射线，连锁保护功能 大程度保护操作人员的人身安全；快门即为目前所有品牌中*内置的ICAL自校准样品，自动校准仪器，自动修正偏差，无需外置自校准标样，保证分析结果的准确性。
? 仪器在Windows CE操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别，背底扣减，谱峰重叠，堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。
? 仪器具有多种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，以取得 佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、卢卡斯经验系数法、质量吸收系数法、基体匹配校正等等。
? 斯派克*的合金分析程序与ROHS分析程序同时安装于同一台X-SORT分析仪中
SPECTRO xSORT适用范围
? 金属材料分析，2秒显示合号和元素含量
? 金属材料分析，分析镁，铝，硅，磷和硫只需要增加额外的10秒，同时显示合号和元素含量
? 快速完成材料鉴别：是/不是
? 30秒内完成土壤或者环保类样品测试
? 根据相关条例指令测试，可在30秒内对包含塑胶，矿石（尾矿）等在内的材料进行成分析在标准配置中，具有如下特点：(仪器主机必须与分析程序同时预订才能工作)
? 仪器使用XRF ANALYZER软件进行仪器控制和数据处理
? 仪器快门同时是ICAL标准样品，利用硬体快门对仪器自动校准，使仪器始终保持 佳状态。无须另外的标准样品或操作。
? 一体化控制计算机
? 双电池包，每个电池提供超过4个小时的连续操作时间
? 标准USB接口可用于数据传输或者和其他外部设备连接
? 仪器可通过蓝牙技术无线连接具有蓝牙功能的打印机或者传输数据
? 仪器背包和电池套
? 无须任何工具即可更换小样品适配器，安全罩和保护箔膜
? 仪器主机，电池，充电器，保护罩和消耗品都放在一个便携箱内
? CCD摄像功能可用于定位测试点，测试位置的图像可以和测试结果一起测试(可选件)
? 电池充电器也可作为变压器使仪器用外接交流电工作
? 样品测试仓（可连接外接电脑变为台式XRF分析仪）(可选件)
技术指标
主要由以下几部分组成：
? X光管高压发生器
? X光管保护及空冷机构
? 样品快门
? 高性能可充电锂聚合物电池(二块)
? 能量色散检测器系统（具有前置放大的硅漂移检测器）
? 逻辑分析电路
? 4096通道多通道能量分析器
? 控制仪器及数据处理用一体式计算机
? 仪器的测量、控制及数据处理软件（WINDOWS 操作系统）
? 自动定量及定性分析（基本参数法和经验系数法）
? 仪器说明及操作手册
? 部件说明
检测器
? SDD 硅漂移半导体检测器
? Mn-K?能量分辨率：半峰宽<160eV
? 输入计数率 大至250kcps
激发源
? X射线管
? 铑靶
? 大50kV
? 大125微安
快门安全连锁机构
打开快门前，自动检测是否有X射线泄漏，如未检测到样品，快门将于200毫秒的时间内自动关闭，关闭快门的同时仪器自动切断X射线。
自动快门
具有硬体快门，快门关闭状态下将射线源与外界物理上进行隔离.
尺寸和重量
? 高: 270 mm
? 宽: 93 mm
? 深: 230 mm
? 重量：仪器1.264Kg，电池：380克
电源
? 可充电锂聚合物电池操作
? >4小时连续工作
? 分析时11W，待机时6W
? 100 - 240 V, +/- 10%, 50 / 60 Hz 变压器/充电器
仪器控制嵌入式电脑主要技术参数
? Marvell PXA310 处理器 624Mhz主频
? 内存: RAM 64M，ROM 256M
? 容量: 4G
? 3.5英寸TFT 320 x 240、65K 色彩、16 位
? 操作系统: WINDOWS
标准配置分析程序
为适应于客户多种应用需要SPECTRO已将各种程序预制在仪器中：
金属软件包：分析元素包括：Mg，Al，Si，P，S，Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, I, Ba, W, Au, Hg, Pb, Bi, Th.（分析镁，铝，硅，磷和硫需要增加配置）
超过400个金属标准牌号数据库，并可根据客户需要自由添加扩展。
