FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG
2015年，ASD公司（现隶属于荷兰帕纳科）推出FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG，将光谱分辨率提升至6nm，这进一步提高了下一代高光谱成像传感器的分析精度，是地物光谱仪器的一次重要变革。
更高分辨率的高光谱仪器可以协助用户提高遥感分类应用的精度，识别更多之前无法从高光谱图像中获取的点像元信息。为了充分发挥下一代传感器的潜能，那么基于地面测量的光谱仪器必须满足或者超越成像传感器的光谱分辨率，如果分辨率达不到高光谱成像的要求，那么数据在后处理过程中会因插值而丢失重要的光谱信息。
FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光谱仪大大提升了光谱分辨率，正是为了满足下一代高光谱成像系统（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的严格要求而设计。除了优越的光谱分辨率，像所有ASD地物光谱仪一样，FieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR检测器，在350nm到2500nm的全光谱范围进行1875波段（编码通道）的检测，从而提供更小的采样间隔（采样带宽），确保可以检出样品更细微的光谱特征。
优点：
为野外遥感设计
在太阳作为光源的情况下，同时拥有更高光谱分辨率和更低等效辐射噪声
光纤与主机严格固定，一体定标，可溯源到美国NIST
外形美观，坚固耐用，人体工学设计，使用体验舒适方便
海量应用文献，数据库完备，无缝兼容ENVI、TSG等更多的第三方工具软件
性能指标：
产品型号 | FieldSpec 4 HR NG |
波长范围 | 350-2500 nm |
光谱分辨率 | 3 nm @ 700 nm 6 nm @ 1400/2100 nm |
等效噪声辐射 | VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm SWIR 1 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400 nm SWIR 2 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100 nm |
采样间隔 | 1.4 nm @ 350-1000 nm 1.1 nm @ 1001-2500 nm |
杂散光 | VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01% |
波长重复性 | 0.1 nm |
波长准确度 | 0.5 nm |
辐射 | VNIR 2 倍太阳光, SWIR 10 倍太阳光 |
辐射校准精度 | < 3.5%@400="" nm,="">< 3%@700="" nm,="">< 3%@2200=""> |
数据输出通道数 | 2151 |
检测器阵列通道数 | 512@350-1000 nm, 520*2@1001-1800 nm, 520*2@1801-2500 nm |
检测器 | VNIR 检测器 (350-1000 nm): 512 像元硅阵列传感器 SWIR 1 检测器 (1001-1800 nm): InGaAs 检测器, TE 制冷 SWIR 2 检测器 (1801-2500 nm): InGaAs 检测器, TE 制冷 |
扫描方式 | 固定及运动光栅组合分光 |
输入 | 1.5 m 光纤(25° 视场). 可选前置镜头改变视场角 |
尺寸 | 12.7*36.8*29.2 cm |
重量 | 5.44 kg |
电脑 | Windows®7 64位笔记本（可选支持win8 / win10笔记本、平板电脑及三防手持数据终端电脑） |
通讯 | 有线：10 / 100快速以太网接口，无线：802.11g 无线网卡 |
软件 | RS3TM光谱数据收集软件，与ENVI、ViewSpecTM Pro数据后处理软件无缝兼容，可选Indico@Pro |
便携性 | 人体工程野外背包（内含防雨披及样品舱），安全运输箱 |
可选配件 | 植物探头、照明器、积分球、GPS等（详见通用配件） |
制造商：英国ASD
