Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪，测试采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪参数规格：
型号：CMI233+ECP(探头)
品牌：英国牛津仪器Oxford
测量范围：0-1.52mm（0-60mils）
测量精度：依照参考标准片±0.1um
单位：um/mils
尺寸：14.9X7.94X3.02cm
重量：260g(含电池)
电源：9V电池
注意：该仪器还可进行涂层侧后，可选购探头SMP-2
Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪检测原理：
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。
产品供货展示图：
其他种类测厚仪膜厚仪：
专业测试各种涂镀层膜厚计膜厚仪测厚仪CMI233
深圳方源仪器CMI233膜厚仪测厚仪
CMI243高精度媲美X射线测厚仪膜厚仪
新型牛津镀层膜厚仪CMI243
上海供应PCB行业专用面铜孔铜测厚仪膜厚仪
深圳方源台式CMI760线路板PCB行业膜厚仪测厚仪
CMI563面铜厚度测量仪膜厚仪
面铜膜厚仪CMI563产品介绍
牛津仪器孔内镀铜测厚仪膜厚仪
英国牛津仪器Oxford孔内镀铜膜厚仪
深圳上海供应CMI511孔铜测厚仪膜厚仪
ETP探头孔铜膜厚仪CMI511价格
方源仪器批发供应面铜膜厚仪
原装英国牛津膜厚仪CMI165面铜测厚仪
Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪
便携式铜箔膜厚仪CMI95M
中国代理商：深圳市方源仪器有限公司
地址：深圳市南山区登良路62号南园综合楼5楼 地址：上海市闵行区申滨路1051弄140号1101室
电话： 电话：
： : fyyq@ ： : fyyq@ ：
