FEI “Q系列”扫描电子显微镜-仪表网

广州贝拓科学技术有限公司（原广州贝拓仪器设备有限公司）是一家致力于向高科技企业、科研机构及高校提供*实验分析仪器、设备的供应商。我们不仅仅提供产品，我们还可以帮助客户在检测、分析和生产过程当中得到*、可靠的技术服务和解决方案。

从成立的那一天起，我们就把“Touch the future”作为公司*发展的核心理念。我们的客户是各自行业的技术者；我们代理的品牌是享誉的品牌，产品的质量和技术性能早已赢得业界和用户的*和信赖，部分产品更是在其领域成为技术的，如: betop贝拓科学自主产品接触角测量仪、光学膜厚仪；AUCUMA澳柯玛；普析通用XRD，XRF；HITACHI日立热分仪、紫外可见光、差示扫描量热仪；中国台湾OTO光纤光谱仪；德国WITec的拉曼光谱仪、近场光学（SNOM）；Anasys的纳米红外光谱仪；Andor的CCD、光谱仪；FEI扫描电子显微镜；美国PROTO；OXFORD的低温恒温器、台式核磁、AFM；AMETEK旗下输力强（Solartron)和普林斯顿的电化学工作站；LEICA 显微镜系统；显微镜和电镜前处理设备等等。

我们的优势和专注点集中于材料测试方面，其中包括材料的结构、元素分布、表面特征、物理化学特性以及光学、电学特性的分析。

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FEI “Q系列"扫描电子显微镜是较经济、高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。

FEI “Q系列”扫描电子显微镜产品详情

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品牌	自营品牌

FEI “Q系列”扫描电子显微镜

对于失效分析、质量控制和材料表征而言、Q25是、高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。

为应对不导电样品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了对的样品制备步骤或者附加的样品镀膜仪的需求。Q25样品室的设计和真空系统能够快速更换样品、允许日常高效、快速检测样品。

为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。

简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。
利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。
快速轻松表征导电和非导电样品
支持可选的分析功能。利用的多级穿过透镜的真空系统在高真空和低真空下使导电样品和不导电样品的精确EDS分析成为可能。
Q45 SEM: 采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。

FEI “Q系列”扫描电子显微镜

分辨率

加速
电压

探针电流样品台

放大率

试件室尺寸

Q25 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kV

up to 2 μA, continuously adjusted

13 to 1000000x

284 mm size left to right

Q45 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

Extended vacuum mode (ESEM)
3.0 nm at 30 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kV

up to 2 μA, continuously adjusted

6 to 1000000x

284 mm size left to right

关键词：电子显微镜显微镜

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