4200-SCS 参数分析仪

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简 述：
4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种*的参数分析仪具有无比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能
特征：
运行 Clarius SWon Win7 嵌入式计算机的直观、触摸屏界面。特的可选远程前置放大器将 SMU 的分辨率扩展至 10 aACV 仪器使 CV 测量像 DC IV 一样简单用于高级半导体测试的脉冲和脉冲 IV 功能示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能独立的 PC 提供快速的测试设置、强大的数据分析、图形和打印以及测试结果的板载大容量存储。配备嵌入式测量专业知识和数百个即用型应用测试，用于点击式可靠性测试的内置压力/测量、循环和数据分析，包括五个符合 JEDEC 标准的样品测试集成支持各种 LCR 仪表、Keithley 开关矩阵配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脉冲发生器包括用于先分析探针的软件驱动程序
吉时利 4200A-SCS 半导体参数分析仪表征系统执行实验室级 DC 和脉冲器件表征、实时绘图和分析，具有高精度和亚 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步电流-电压 (IV)、电容-电压 (CV) 和超快脉冲 IV 测量。