一 产品描述
主要利用涡电流测试原理,非接触测试半导体材料,石墨烯,透明导电膜,碳纳米管,金属等材料的电学特性。
1.1 主要特点
本仪器为非接触,非损伤测试,具有测试速度快,重复性佳,测试敏感性高,可以直接测试产品片等优点。
1.2 技术参数
参数 | 探头 | 范围 | 重复性 | 方法 |
量程 | 测锭探头 | 0.01-2ohm cm | 2% | 涡流法 |
测片探头(双探头) | 0.15-2000ohm/sq | 1% | ||
测量方式 | 热机半小时后,静态测试10次 | |||
存储数据 | 数据库内部存储(可自行导出表格文件)、PDF格式报告、CSV表格数据 | |||
通讯接口 | 1路RS232 | |||
用电功率 | 600VA | |||
环境温度 | 23 ±5°C | |||
电源要求 | 额定电压(220±22)VAC 频率(50±1)Hz | |||
外形尺寸 | 1315*450*530(长*宽*高 单位mm) |