高频 LCR表系列

适用于生产线上高频 LCR Meter 的量测。
本机种一共有七种机型，分别是20Hz~5MHz, 20Hz~10MHz, 20Hz~15MHz, 20Hz~20MHz, 20Hz~30MHz, 20Hz~50MHz, 20Hz~120MHz, +/-0.05%准确度。
在生产线的高频量测中，此机种为目测试准确，测试频率高的机种。

1J6505P    频率范围 20Hz ~ 5MHz

    1J6510P    频率范围 20Hz ~ 10MHz

    1J6515P    频率范围 20Hz ~ 15MHz

    1J6520P    频率范围 20Hz ~ 20MHz

    1J6530P    频率范围 20Hz ~ 30MHz

    1J6550P    频率范围 20Hz ~ 50MHz

    1J65120P  频率范围 20Hz ~ 120MHz

0.05%基本精确度，频率分辨率≤1mHz

• 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手 

• 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案
• ＜30 mS 自动化测量可结合测包机测试
• 高频四线式技术，可测量低Rs、等效Rdc和高Q值
• 内置交流信号：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms。直流内置偏置信号：0~ 100mA/0~ +40V或-40V~ +40V（选配）。可外加WK6565高频直流偏置电流源到40Amp

• 四种模式统一操作界面，Hander连接自动化分选设备，LAN、GPIB电脑联机软件通信接口

• 可使用鼠标及键盘操作，也可外接列表打印机及使用U盘保存数据，测试图像

• 英国设计，接受软硬件升及定制化需求

●测试参数:

电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数（ε′ �相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、Dε相对介电损耗）、磁导率（μ ′ �相对磁导率实部、μ′′r 相对磁导率虚部、Dμ相对磁导率损耗）


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