SPECTRO MIDEXx射线荧光光谱采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪，SPECTRO MIDEX适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。
SPECTRO MIDEX能量色散小焦点X射线荧光光谱仪不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。
特点：
1、电制冷的 SDD 检测器不需液氮制冷。
2、超大样品内仓（475*460*280 mm）可以放超大或者超小的样品，对样品的形状没有任何要求。
3、采用上照式光管设计（X 光管的光束是从上往下照射样品的），光斑电脑控制，通过摄像头可在电脑上轻松去选定测试样品上的某个点（这个优点对于不规则样品来讲是*有优势的）；同时上照式的光管可以避免在测液体样品时发生泄漏而损坏X 光管的问题。
4、摄像头 20 倍变焦放大；激光束定位，弥补了摄像系统可能的位置偏差。
5、符合 ISO9001, CE… 德国X 射线安全使用标准
6、不仅可对样品的微小区域所存在的元素进行快速无损的分析鉴定，还可对超大样品的表面（面积可达EC 标准线路板规格的2 倍，233*160mm），进行元素分析。
7、SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪是为满足多种分析任务而专门研制开发的微区分析仪器，灵敏度高，无破坏性，适合多种行业及研究领域。
8、分辨率：160ev , 计数率：250000cps（目前计数率）。
9、软件驱动的狭缝交换器，分析面积为 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由选择，小焦点聚焦方式，能量无损失，定位更加精准，可以测试到细小的焊端，引脚和BGA 焊球。
10、仪器拓展性：用户可自己建立曲线，建立测试方法，扩展性较好，可以使仪器十年都保持，软件升级。
11、快速测定：可设定精度，自动控制测试时间测试，测试时间*短。
检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα线，在测量计数率为
10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电路
- 脉冲计数率可达250，000 cps
SPECTRO MIDEX能量色散小焦点X射线荧光光谱仪光谱仪数据
- 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光谱仪能耗：200W
- 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm
580670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸宽x 深:500550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置
分析
- 用于合金元素分析的本参数程序FP +
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测
环境条件
周围环境温度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可达到标定仪器性能
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘
