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高速·绝缘&多通道的测试系统用记录仪（机架组装型）
● 24bit高分辨率的数字电压表单元MR8990新上市！不需要扫描仪即可实现高速高精度测量。
● 适用于多通道的测试（MR8740：54ch，MR8741：16ch）
● 绝缘输入（各输入通道间、外壳间绝缘：对地额定电压AC、DC300V）
● 高速采样（20MS/s，54ch型32ch同时采样）
● 适合组装在机架中（高4U·180mm以内，无显示屏，长方形）
● 通过LAN通讯进行远程测量（数据传输至内存，在远离测量处的地方进行计算机操作）
基本参数
| 型号 | MR8740 | MR8741 |
|---|---|---|
| 通道数 | [模块I：模拟单元16个]模拟32ch+逻辑标准8ch~ [模块I：模拟单元13个+逻辑单元3个]模拟26ch+逻辑56ch（逻辑标准8ch+逻辑单元48ch） [模块II：模拟单元11个]模拟22ch+逻辑标准8ch~ [模块II：模拟单元8个+逻辑单元3个]模拟16ch+逻辑56ch（逻辑标准8ch+逻辑单元48ch） ※ 模块I和模块II的2个模块构成 ※ 模块I和模块II通过同步触发同时开始（内部设置） | [模拟单元8个]模拟16ch+逻辑标准16ch~ [模拟单元5个+逻辑单元3个]模拟10ch+逻辑64ch（逻辑标准16ch+逻辑单元48ch） |
| ※模拟单元的通道间和主机间绝缘，所有逻辑单元的通道和标准逻辑端口的通道和主机共地 | ||
| 测量量程 (20div满量程) | 5mV~20V/div，12档量程，分辨率：量程的1/100 (使用8966时) 5mV~50V/div，5档量程，分辨率：量程的1/50000 (使用MR8990时) | |
| 输入电压 | DC 400V（使用8966时，输入端口间的安全电压） | |
| 对地额定电压 | AC，DC300V（输入和主机间绝缘，输入通道~外壳间，各输入通道间的上限电压） | |
| 频率特性 | 使用8966时：DC~5MHz (-3dB) | |
| 时间轴 (存储时) | 5μs~5min/div，26档量程，时间轴分辨率100点/div，时间轴放大：×2~×10的3段，缩小：1/2~1/20,000的13段 | |
| 测量功能 | 存储（高速记录），FFT | |
| 存储容量 | 16MW/ch（固定），共864MW | 16MW/ch（固定），共256MW |
| 外部存储 | U盘（USB2.0） | |
| 显示部分 | 无（数字DVI端口，各模块1个，800× 600点） | 无（数字DVI端口1个，800× 600点） |
| 外部接口 | [LAN] 100BASE-TX(DHCP，适用DNS，FTP服务器，HTTP服务器) [USB]USB2.0系列A插座×2（鼠标操作） | |
| 电源 | AC100~240 V, 50/60 Hz (250 VA max.) | AC100~240 V, 50/60 Hz (120 VA max.) |
| 体积及重量 | 426W × 177H × 505D mm, 10.8 kg (仅主机) | 350W × 160H × 320D mm, 5.4 kg (仅主机) |
| 附件 | 使用说明书×1，应用光盘（波形查看Wv/通讯指令表）×1，电源线×1 | |
Recorder for high speed, insulation & multichannel test system (rack assembled type)
24bit high resolution digital voltmeter unit MR8990 new on the market! High speed and high precision measurement can be achieved without scanner.
For multi-channel testing (mr8740:54ch, mr8741:16ch)
Insulation input (insulation between input channels and enclosure: maximum rated voltage AC and DC300V to the ground)
High-speed sampling (maximum 20MS/s, 54ch maximum 32ch simultaneous sampling)
Suitable for assembly in the frame (height: 4U·180mm, no display, rectangular)
Remote measurement via LAN communication (data transfer to memory, computer operation away from the measurement)
