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清和光学制作所SWIR-5200内部观察显微镜SEIWA OPTICAL
半导体内部观察显微镜SWIR-5200，双目体视显微镜，变倍双目体视显微镜SKZ系列，SKZ-2(2+60+13+20+40-C)，SKZ-4（2+60+13+25-B+40-C），SKZ-1（2+60+13+20），SKZ-5（2+60+19-A），SKZ-6（2+60+13），测量显微镜SMJ-5
清和光学制作所SWIR-5200内部观察显微镜SEIWA OPTICAL
清和光学制作所SWIR-5200内部观察显微镜SEIWA OPTICAL
半导体内部观察显微镜SWIR-5200，双目体视显微镜，变倍双目体视显微镜SKZ系列，SKZ-2(2+60+13+20+40-C)，SKZ-4（2+60+13+25-B+40-C），SKZ-1（2+60+13+20），SKZ-5（2+60+19-A），SKZ-6（2+60+13），测量显微镜SMJ-5，SMJ-7，SMJ-8，通孔镜PC-2
产品介绍
半导体内部观察显微镜SWIR-5200
半导体内部观察显微镜
SWIR-5200 型，配备 1.3 兆 SWIR 相机这是一种
利用红外光的透射和反射特性
来观察硅晶片、芯片、MEMS 和 CSP 等半导体器件内部的
显微镜。搭载
配备1像素5μm、1.3MP的SONY IMX990的SWIR相机，
即使是近红外图像也能获得高分辨率图像。 ・使用
成像镜筒和
针对近红外1100-1700nm区域设计的PEIR物镜系列，配合SWIR相机具有高灵敏度，即使在厚晶圆和高密度晶圆上也能获得高对比度图像。
・高功率A近红外设置卤素光源，即使使用100倍物镜也能获得明亮的图像。
配备8英寸晶圆安装台，还可以提供防振台和晶圆装载机等选件。
双目体视显微镜
变倍双目体视显微镜SKZ系列
目镜：SWF10X
物镜：0.75X-4.5X（变倍比6:1）
总放大倍率：7.5X-45X
视场数：29.3mm-4.8mm
工作距离：90mm
变焦头：45 ° 倾斜、360° 旋转、屈光度调节、瞳孔宽度调节 50-75mm
焦点调节：微调 = 齿轮齿条式 50mm 操作
照明装置：环形荧光照明装置
*也可提供白色 LED 环形照明。
测量显微镜
体积小且易于操作的测量显微镜，让您可以在狭小的空间内工作。
通孔镜
通过自由改变PC-2
板内壁的视角，可以检查小孔的内表面。
观察表面时请使用可选照明。
您可以清楚地观察安装IC的电路板的焊接情况。
