MX8R大平台晶元半导体检查显微镜-上海思长约光学仪器有限公司

MX8R大平台晶元半导体检查显微镜

LED芯片检测显微镜MX8R型

MX8R各项操作根据人机工程学设计，限度减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。

无限远铰链三通观察头

ETTR 型正像铰链三目观察头，所成像的方位与物体实际方位一致，物体移动的方向跟像面移动的方向相同，便于使用者观察与操作。

长工作距金相物镜

全新设计的长工作距物镜，采用半复消色差技术，其使用的多层宽带镀膜技术，使整个视场内的成像清晰锐利，色彩自然，明亮舒适。长工作距设计，50X 物镜的有效工作距离 7.9mm，100X 物镜的有效工作距离也达到了 2.1mm，更有20X 超长工作距金相物镜，大幅拓展了 MX 机型的应用领域。同步设计了全套明暗场两用物镜，适用于MX8R 机型，暗场照明亮度比传统暗场物镜提高 2 倍以上。

高性能物镜转换器

MX 机型的转换器采用精密轴承设计，转动手感轻巧舒适，重复定位精度高，物镜转换后的同心度也得到较好的控制，根据 MX 系列机型配置及功能的不同，可以选择不同型号的转换器。

明暗场反射照明器
带可变孔径光阑，视场光阑，中心均可调 ；带明暗场照明切换装置，适用于MX8R/MX8RT机型。

丰富的观察方式，满足您的检测需求

明场观察：远心柯拉反射照明系统，配以全新设计的无限远长工作距平场消色差金相物镜，从低倍到高倍，都能得到清晰、平坦、明亮的高画质显微图像。

暗场观察：将暗场照明拉杆拉到位置，即可使用暗场功能，可以观察物体表面的各种划痕、杂质点及其他细微缺陷。内置衰减片，减少明暗场切换时光线剧烈变换对眼睛的刺激。

简易偏光观察：将起偏镜及检偏镜插板插入照明器的位置，即可进行简易偏光观察。检偏镜可分为固定式和 360°旋转式两种。

DIC 微分干涉观察：在正交偏光的基础上 , 插入 DIC 棱镜，即可进行 DIC 微分干涉观察。使用 DIC 技术 , 可以使样品表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，极大的提高图像的对比度。可匹配带 DIC 功能的物镜，使整个视场的干涉色一致，微分干涉效果非常出色 , 高倍物镜 DIC 效果也较好。

附件: 摄影 / 摄像附件：在三目观察筒上，可以配接摄影摄像装置，将双目观察到的图像输出至监视器或计算机，进行图像分析、处理、保存或传送。使用专用的 C 接口与中继镜，可以和数码相机联接，快速进行拍照，并获取图像。

多种干涉滤色片可选: 使用 12V100W 卤素灯时照明时，可以选择 LBD 日光型滤色片，能将光线过滤成自然日光的颜色，图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要，可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节，以获得图像效果。