SEM2000是一款基础款的多功能分析型钨灯丝扫描电镜。20 kV分辨率可以做到3.9 nm，支持升级30 kV电压，可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围，适用于快速筛选待测样品，更多的扩展接口，可搭载BSED、EDS等附件，使应用领域更广。
| 分辨率 | 加速电压 | 放大倍数 |
| 3.9 nm @ 20 kV | 0.5~20 kV （30 kV可选） | 1~300,000x |
产品特点
▶简洁的操作界面
▷ 纯中文的操作界面
功能设计简单易操作。符合国人使用习惯，即使是新手用户，简单了解后也能快速上手。
▷ 完善的自动化功能
自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散，均可一键调节，提高工作效率。
▷ 丰富的测量工具
长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。
▶特色功能
▷ 光学导航
想看哪里点哪里，导航更轻松
标配光学导航摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品。
▷ 防撞设计
对新手更友好的防碰撞设计，限度保护敏感单元。
▷ 一键成像
*软件一键成像，新手也能轻松驾驭。
▷ 分析距离
分析距离和成像距离二合一，轻松体验优质性能。
▶多种信息同时成像
SEM2000软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息。
▶分辨率指标
▶丰富的扩展性
▷ 高灵敏度背散射探测器
- 多通道成像
探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。
- 二次电子成像和背散射电子成像对比
背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。
▷ 能谱
金属夹杂物能谱面扫分析结果。
▷ 电子背散射衍射
钨灯丝电镜束流大，满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。 该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。
应用案例
产品参数
| 电子光学系统 | 电子枪类型 | 预对中型发叉式钨灯丝电子枪 |
| 分辨率 | 3.9 nm @ 20 kV（SE） | |
| 4.5 nm @ 20 kV（BSE） | ||
| 放大倍率 | 1 x～300,000 x | |
| 加速电压 | 0.5 kV～20 kV | |
| 成像系统 | 探测器 | 二次电子探测器（ETD） |
| *背散射电子探测器、*能谱仪EDS等 | ||
| 图像保存格式 | TIFF、JPG、BMP、PNG | |
| 真空系统 | 高真空 | 优于5×10-4 Pa |
| 控制方式 | 全自动控制 | |
| 泵 | 机械泵×1，分子泵×1 | |
| 样品室 | 摄像头 | 光学导航 |
| 样品台配置 | 两轴自动 | |
| 行程 | X: 100 mm | |
| Y: 100 mm | ||
| 软件 | 语言 | 中文 |
| 操作系统 | Windows | |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航 | |
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 | |
| 特色功能 | 智能辅助消像散、大图拼接（选配软件） | |
| 安装要求 | 房间 | 长 ≥ 3000 mm，宽 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm |
| 温度 | 20 ℃～25 ℃ | |
| 湿度 | ≤ 50 % | |
| 电气参数 | 电源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA |
