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M-5010 粉尘中SiO₂含量标准,二氧化硅分析仪原理

参考价
25000--1
具体成交价以合同协议为准
  • 型号M-5010
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新时间2024-09-19
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限2
  • 实名认证已认证
  • 产品数量1351
  • 人气值47604
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技术原理涉及滴定法、比色法、近红外吸收、近红外光散射、超声波、紫外法和电极法等;

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测量范围0~5.00,0-20.00,0~100.0mg/l,其它量程可选 测量项目水质二氧化硅在线分析 产地国产
测量方法硅钼黄分光光度法 波长450?nm 比色槽50、20?mm取决于量程
显示7“彩色触摸屏 操作菜单中文 测量时间8分钟
测量精度3?%FS? 输出2路4-20mA模拟电流1路RS232/485数字信号 安装壁挂式,可选落地式
尺寸600*500*280mm(宽*高*深) 电源220VAC,?50/60Hz 测量方法硅钼黄分光光度法
波长450?nm 比色槽50、20?mm取决于量程 显示7“彩色触摸屏
操作菜单中文 测量时间8分钟 测量精度3?%FS?
输出2路4-20mA模拟电流1路RS232/485数字信号 安装壁挂式,可选落地式 尺寸600*500*280mm(宽*高*深)
电源220VAC,?50/60Hz
麦越环境 粉尘中SiO₂含量标准,二氧化硅分析仪原理
在线二氧化硅分析仪采用特别设计并具有技术的光源(LED),满足离子计具有标准特征又可采用用户自我配制设定的校正标准,使测量快速、准确,并确保测量稳定,重现性好。
粉尘中SiO₂含量标准,二氧化硅分析仪原理 产品详情

粉尘中SiO?含量标准,二氧化硅分析仪原理,二氧化硅测定仪销售 麦越环境M-5010


chao强的稳定性和chao低的检测下限

du创的光学系统和高精度进样反应系统保证仪器具有chao强的稳定性和chao低的检测下限。

l  高精度双光路分光光度计系统

du创的光学系统具有大面积、chao低暗电流光电检测单元,采用50mm比色槽,具有超高的检测灵敏度和超!低的检测下限。采用了长寿命LED光源单元,寿命超过10万小时,稳定可靠、无需更换。

l  高精度稳定可靠的进样反应系统

高精度的驱动单元和八泵轴设计保证了进样流量控制的可靠性及稳定性。


特性

l  硅钼黄分光光度法

l  全自动分析,自动校正、自动清洗

l  7寸彩色触摸屏中文菜单,人机界面友好

l  超大2G数据储存

l  三级密码保护

l  USB更新软件和下载数据

l  壁挂式安装

l  二路4-20mA模拟电流输出

l  一路RS232/485和一路以太网数字通讯输出

l  通用电源(100-240VAC, 50/60Hz)供电


麦越环境 M-5010 粉尘中SiO?含量标准,二氧化硅分析仪原理

技术参数


测量方法

硅钼黄分光光度法

测量范围

0~5.00,0-20.00,0~100.0mg/l,其它量程可选

波长

450 nm

比色槽

50、20 mm取决于量程

显示

7“彩色触摸屏

操作菜单

中文

测量时间

8分钟

测量精度

3 %FS

干扰物质

磷酸盐

自动校正

可编程

自动清洗

可编程

输出

2路4-20mA模拟电流1路RS232/485数字信号1路USB接口

安装

壁挂式,可选落地式

尺寸

600*500*280mm(宽*高*深)

电源

220VAC, 50/60Hz







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