透反射型偏光熔点仪 XPR-800详细技术参数
一、仪器的用途
专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。观察高聚物熔融和结晶过程中的形态,结晶速率及动力学计算;观察双折射体的光学效应;微生物形貌观察;组织细胞核、壁形态观察;地质材料偏光形态观察;无机晶体材料观察,特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。
二、技术参数
类别 | 放大倍数 | 视场(mm) |
大视野目镜 | 10X | φ18 |
分划目镜 | 10X | φ18 |
类别 | 放大倍数 | 数值孔径(NA) | 盖玻片厚 |
无应力平场 消色差物镜 | 5X | 0.12 | - |
10X | 0.25 | - | |
40X | 0.65 | - | |
60X | 0.85 | - |
4.目镜管:转轴式(倾斜30°),内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,推入式
勃氏镜,中心可调,λ补偿器,λ/4 补偿器,石英锲补偿器
5.透射照明:6V 20W卤素灯,亮度可调,起偏器可360°旋转有0、90、180、270四个读数
反射照明: 6V 20W卤素灯,亮度可调, 起偏器可旋转;
6.载物台:机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm, 360°旋转
7.调焦机构:粗微动同轴,齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜:阿贝聚光镜NA1.25,升降上下可调
9.防霉系统:防霉
10.高精度偏光熔点热台 XPH-300
①工作温度:室温 至320℃(可达350℃)
②起始温度设定速率:50℃至300℃小于12min ; 300℃至50℃小于15min
③仪器温度最小读数:0.1℃
④加热台温度控制准确度: 室温-200℃时:±0.5℃; 200-320℃时:±1℃
⑤起始温度设定准确度:±1℃
⑥线性升温速率(℃/min):0.2;0.5
降温速度:可设置降到到的温度,从而达到在此温度的恒温.
⑦线性升温速率偏差:±10%
四、系统组成
数码型(XPR-800D):1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.XPH热台
五、总放大参考倍数
六、选购件
3.移动尺(30X25mm) 4.偏光显微镜分析软件
5.图像测量软件