SPECTROLAB S 直读光谱仪
— 金属分析真正意义上的革命
40多年来，SPECTRO全心投入开发出的发射光谱仪。今天，斯派克公司引入CMOS探测器技术，改变了电弧/火花分析技术的走向及未来。在所有同类分析仪中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，低元素检测限，同时也可以提供超长的正常运行时间和非常具有前瞻性的灵活性。
SPECTROLAB S 拥有一个基于CMOS的探测器的记录系统，该系统非常适合于金属分析。从微量元素到多基体应用，它提供了快速、高度准确、异常灵活的技术选择。
样品的分析速度是仪器*性的重要标志，SPECTROLAB S的推出满足了金属分析市场对速度的需求。例如：当检测低合金钢时，它可以在20秒或更短的时间内提供高准确度的测量值！
从技术指标和实际使用效果看，SPECTROLAB S均是适合金属冶炼厂的测试需求。对于金属再加工生产商、汽车和航空航天制造商、以及成品和半成品、电子产品、半导体等制造商来说，可以给出的解决方案同样出色。
创新点
1、独立双光室，确保所有分析谱线都获得很高分辨率。 SPECTROLAB S 配备两套完整的专用光学系统。一个光室精确测量波长从120到240纳米（nm）;另一个光室，波长范围从210到800纳米（nm）。 两个光室都采用*的CMOS检测器，具备恒温装置和压力补偿功能
2、等离子发生器数字光源和点火板可靠的新型高能LDMOS等离子发生器光源，为SPECTROLAB S 输出高稳定的火花放电，频率高达1000 Hz，只需要很短的时间即可完成测试，例如分析低合金钢小于 20 秒。该系统还允许特定应用的火花参数设置，以优化分析性能。
3、精密氩气控制系统 SPECTROLAB S 采用全新程控流量。软件根据分析程序精密设置氩气流量。节约了氩气消耗。氩气阀体直接耦合到火花台，无需管道连接，避免漏气。
4、火花台清理间隔大大延长 坚固的陶瓷内芯避免积尘粘附。流畅的气路设计确保了很少的粉尘残留（使得清理间隔时间延长了8倍）；对于大样品量输出的全自动光谱仪系统尤为重要。
5、快速读出系统 斯派克的GigE创新读出系统确保海量数据的极速处理，从而支持的仪器性能表现。实现了的全光谱范围谱图记录。
6、低检出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技术，在关键元素的检测限方面，超越光电倍增管技术的性能。通过配置参比通道，工作曲线可以获得很好优化，可以快速定量分析ppm量级的高纯金属或合金中的痕量元素。
7、元素在低合金钢中平均检测限改善2倍，元素在纯铝中的平均检测限改善5倍。
8、单一标样实现整个系统的标准化, 此项每天可节省30分钟工作时间。
