产品应用
• 批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选
• 长时间可靠性失效测试分析
产品特点
• 提供每路独立的驱动电流
• 软件切换支持各种类型封装LD器件的老化
• 支持多种算法计算Ith
• ACC恒流模式和APC恒背光模式可选
• 支持热插拔,可靠的ESD/EOS防护,保证器件老化期间的安全
• 硬件支持小电流和大电流两个档位,兼容VECSEL和FP/DFB激光器
• 64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化不同工位直接的转料,提高生产效率
参 数 | 指 标 |
测试路数 | 单板64路,支持级联 |
LD监控电流 | 0-250mA |
PD反偏电压 | 0-5V |
LD正向电压 | 0-3V |
PD监控电流 | 0-2000uA |
管脚定义 | 软件切换支持各种封装类型的器件 |
LIV扫描 | 支持Im扫描计算Ith |
数据库 | 系统自带SQL数据库,可以追述保存LD测试的数据 |
工作要求 | 25℃±5℃、湿度≤50% |
存储要求 | 0℃~40℃、湿度≤50% |
尺寸(宽x高x深) | 482*67*550(mm) |
电源规格 | 220V/50HZ |
功率 | 220V 160W |