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  • LD集成式老化系统

LD集成式老化系统

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  • 型号
  • 品牌
  • 所在地武汉市
  • 更新时间2025-02-05
  • 厂商性质其他
  • 所在地区武汉市
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LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。
LD集成式老化系统 产品详情
    • 商品名称: LD集成式老化系统
    • 型号: PSS LDBI13003
    • 描述: 支持DML TO老化,3072路

    LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

    产品应用

    • 批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选
    • 长时间可靠性失效测试分析

     

     

  • 产品特点

    • 提供每路独立的驱动电流
    • 软件切换支持各种类型封装LD器件的老化

     

     

    • 两个独立老化箱体,可以独立控制,升温速度效率高,无过冲

     

     

    • 支持多种算法计算Ith
    • 支持热插拔,可靠的ESD/EOS防护,保证器件老化期间的安全

     

     

    • 支持老化板监控插拔次数在线记录功能
    • 64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料,提高生产效率

  • 参 数

    指 标

    测试路数

    单板64路,左右2个仓,每层24个,共3072路

    独立温区数

    2个

    LD驱动电流

    0~250mA

    LD正向电压

    0~3V

    LD监控电流

    0~250mA

    PD监控电流

    0~2000uA

    管脚定义

    软件切换支持各种封装类型的器件

    Ith 扫描

    支持Im扫描计算Ith

    温度范围

    RT+20℃~150℃

    温度精度

    ±2℃

    温度均匀性

    满载时≤3℃,空载时≤2℃

    升温过冲

    ≤3℃

    长期温度稳定性

    0.5℃

    升温速度

    100℃/半小时

    设备尺寸(宽x高x深)

    1400 x 1800 x 1200(mm)

    电源规格

    三相五线AC 380V/50HZ

  • 关键词:老化箱
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