产品特点：
HL-4060可多指测试，具有点击测试，及直线、斜线、弧线、圆等划线，及断线、线性、Jitter、Accuracy、Hover、Report Rate及双指最短距离等测试功能，并提供标准路径、任意路径及XeoVM路径等三种划线功能，以满足各种划线测试需求，同时也提供AOI光学影像自动对位功能，以解决触控面板测试时放置位置偏移的问题，可连接HID、SPI及I2C等不同介面的触控面板测试使用，并提供I2C X-Y座标资料读取API软体介面，使用者可以使用Basic语言编写读取程式，解决不同I2C X-Y座标资料格式的问题，具有Datalog功能，可记录触控面板及线测机测试时的X-Y座标资料，可作为工程验证分析使用及生产品质管理使用。
产品主要功能：
适用于电阻式、电容式、光学式及声波式（SAW）等各种触控面板测试使用。
可测试的触控面板尺寸为：600(L)mm x 400(W)mm。
可双指双动测试。
具有点击及点击测试等功能，点击速度为每秒五次。
提供直线、斜线、弧线、圆、同心圆及Zoom In/Out等划线功能，及具有圆弧补间功能。
提供触控面板直线、斜线、弧线、圆、同心圆及Zoom In/Out等划线时的断线、线性等测试功能。
提供Jitter、Accuracy、Hover、Report Rate及双指最短距离等测试功能。
提供标准路径、任意路径及XeoVM路径等三种划线路径功能。
标准路径划线功能，提供业界各种常用或标准的测试划线路径，例如:圆形、波浪形及螺旋形。
任意路径划线功能，提供划线路径编辑工具，使用者可以自行编辑任意测试划线路径。
XeoVM划线功能，提供线测机划线路径API软体介面，使用者可以使用Visual Basic或C++语言，自行编写测试划线路径。
提供AOI光学影像自动对位功能，线测机会自动对位触控面板测试放置位置。
利用AOI光学影像定位功能，精确地定位及记录各指探测头的测试座标位置。
可连接HID、SPI及I2C等不同介面的触控面板测试使用。
提供I2C讯号电位转换功能，可连接1.5/1.8/2.5/3.0/3.3/5.0V各种电位Sensor IC。
提供触控面板I2C/SPI介面转换成USB介面的功能，I2C传输速度为:400Kdps，SPI传输速度为:8Mdps。
提供I2C/SPI Protocol Analyzer采取触控面板I2C/SPI的Raw Data，I2C采取速度为:4Mhz，SPI采取速度为:24Mhz。
提供I2C X-Y座标Basic Script Interpreter功能，使用者只要使用Basic语言编写I2C X-Y座标程式，就可以读取不同Sensor IC的I2C X-Y座标资料。
提供HID、SPI及I2C等不同介面的触控面板及线测机X-Y座标资料的API软体介面，使用者可自行开发测试程式使用。
具有Datalog功能，可记录触控面板及线测机多指测试时的X-Y座标资料，作为工程验证分析及生产管理使用。
填表式中文视窗使用者介面，让机台测试功能设定更简单，生产操作更容易。
提供量产测试统计报表功能，可作为生产品质管理使用。
线测机模组化设计，机台功能提昇及维修十分容易及快速。
各轴采用伺服马达驱动，X-Y-Z轴传动速度可到达:500mm/Sec.。
X-Y-Z轴採用滚珠螺杆传动，各轴重复精度可到达:+/-0.02mm。
X-Y轴组合採用三角设计方式，可降低高速划线测试的摇晃及偏移问题。
双指探测头的最短测试距离为2mm。
提供万用固定平台或真空吸附平台，适合各种触控面板测试固定使用。
可提供不同材质及直径的探测头及各种重量的砝码，作为测试使用。
