主要特性
■ 带宽：1GHz,500MHz,350MHz
■ 通道数：8/6/4+EXT
■ 垂直分辨率：12-bit
■ 实时采样率：Z高5 GSa/s
■ 波形捕获率：Z高65万帧/秒
高分辨率，满足更高精度测试需求
12-bit高分辨率ADC采样，更好地呈现波形细节;
优秀的本底噪声，1GHz全带宽下本底噪声低至140μV
直流增益精度±0.5%
多路信号时序分析，一次完成电源轨测量
现代电子系统中包含不同的芯片、模块等，不同电路模块的信号在初始化和工作时可能相互影响，通过上电时序测试，可确保各模块信号在正确的时间出现，避免信号冲突、干扰，保证系统正常运行。如在通信系统中，收发模块的上电时序不当，可能造成数据传输错误。随着技术的发展，电路的复杂度不断提高，对上电时序测试也提出了新的挑战。SDS5000X HD可一次捕获所有相关信号的上电过程，节省测量时间，提高工作效率，减少因多次测量引入的误差，对有 8 个以上电源轨的复杂电路，可一次完成测量。
三相电分析
使用八通道示波器进行三相电分析，可以同时连接三相电的各相，对三相电压、电流信号进行同步测量，能实时准确获取三相电各相的波形和参数，直接观察和比较三相电信号的相位关系，确保三相电的相位平衡。借助快速傅里叶变换(FFT)功能，多通道示波器可对三相电压、电流信号进行谐波分析。选配三相电分析，可以测试三相电机的向量图，电能质量，进行效率分析等。
完整的宽禁带半导体解决方案
SDS5000X HD的上升时间达到了ps级别，可以捕捉到碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)的快速变化的波形，分析开关过程中电压，电流的瞬态变化和开关特性。通过观察信号的形状、过冲、振铃等情况，分析信号的完整性，优化电路设计。
