规格参数
technical parameter技术参数
| 机台型号 | HD-322E | HD-432E |
| (X/Y/Z)量测行程 | 300×200×200 | 400×300×200 |
| 全机尺寸(mm) | 1100×700×1650 | 1350×900×1650 |
| 机台承重量 | 30Kg | 30Kg |
| CCD | 美国TEO高清晰彩色CCD | |
| 镜头 | STEP-ZOOM定格卡位连续变倍镜头(光学放大0.7-4.5X影像放大30-200X) | |
| 量测系统 | AI-CNC 3D | |
| 光学尺分辨率 | Lamotion 金属光栅尺0.001mm | |
| X/Y量测精度 | (3+L/200)um | |
| 重复性 | 3um | |
| 电源供给 | 220V+10% 50/60Hz | |
| 适合环境 | 温度20-25摄氏度，湿度50%-60% | |
机台配置
| 序号 | 名称 | 规格/品牌 | 单位 | 数量 | 备注 |
| 1 | 机身、工作台 | 00级天然大理石底座、工作台和立柱 | 套 | 1 |
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| 2 | CCD | 美国TEO高清彩色CCD | 个 | 1 |
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| 3 | 镜头 | POMEAS定格卡位连续变倍镜头 | 个 | 1 |
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| 4 | 光栅尺 | Lamotion 1um金属光栅 | 条 | 3 |
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| 5 | 马达 | UWC | 个 | 3 |
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| 6 | （仪器桌）底座 | 定制（大理石平台） | 个 | 1 |
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| 7 | 软件（加密锁） | HD-CNC 3D | 套 | 1 |
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| 8 | 运动控制器 | UWC | 块 | 1 |
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| 9 | 探针系统 | 英国雷尼绍探测系统 | 套 | 1 | 选配 |
| 10 | 激光系统 | 日本KEYENCE高精度激光 | 套 | 1 | 选配 |
| 11 | 校正块 | 定制 | 块 | 1 |
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| 12 | 光学玻璃 | 定制 | 块 | 1 |
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| 13 | 电脑 | 主机：i3+8G+256G 显示器：AOC 24寸 | 套 | 1 |
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更多说明
Product details仪器特点
※整机底座、立柱、X/Y平台均采用天然大理石制作,变形,精度高,稳定性强；
※全新流线型的造型设计，外观整洁、直观、大方；
※采用全闭环伺服控制技术，运行平稳，噪音低，运行速度快；
※底光和表面光采用可调试LED冷光源，可实现对各种复杂表面工件进行精确量测，避免了一般热光源带来的热胀冷缩的弊病，避免工件二次变形,3环8区光源成像效果更佳；
※采用美国TEO高清彩色CCD，成像效果非常佳；
※采用高清定格卡位连续变倍镜头，变倍率无需校正,光学放大0.7-4.5倍,影像放大30X--200X,(可选配自动变倍镜头)；
※ Z轴采用平行导轨结构加配重块设计，减轻了其重量，提高结构的稳定性并减少了其自身变形，提高了Z轴的定位精度及稳定性；
※可选配日本KEYENCE激光系统和英国RENISHAW探测系统，结合软件可进行大量程、高精度3D测量；
※的Z轴“零段差技术”，保证了不同焦距的平面精度不受影响；
※测量软件：采用本公司自行研发的功能强大的3D测量软件，可以方便快捷的对各种工件进行精确量测，为用户提供了完善的测量解决方案；
※程序自动测量、自动对焦、自动寻边、自动程控灯光，减少人工干预；
软件特点
一、支持Win7/10/11操作系统
二、最完整的几何测量功能
三、强大的构造功能
四、强大的毛边、弱边抓取功能
五、完整的公差评价体系
六、尺寸标注、产品图片全景标注
七、简单实用的报表功能
可输出WORD、EXCEL、TXT、DXF等多种多样的报告
八、工件全景图形扫描，GPS导航，快速找到需测量的位置
九、的3D测量支持，可同时支持接触式测头和激光器
图形以3维显示和操作，更为直观；
支持影像取点测量3D元素；
元素数据以三维显示；
十、强大的CAD导入和导出功能
可同时导入10万个元素；
简化了DXF导入编程的过程；
可以修改CAD默认设置；
可导出IGES档案
支持Gerber文件导入测量，减轻PCB板测量的编程工作量
可导入曲线进行测量
十一、实用强大的编程功能
1、支持一机编程多机使用；
2、支持元素重新测量，与其相关联的构造、几何运算、公差判定会自动更新，简单省时高效；
3、可对程序的灯光、倍率、高度等进行快速修改；
4、程序阵列、平移、旋转：对有规律的元素测量，只需测量一个，其余的可通过阵列、平移、旋转来完成，省时高效；
5、同在一个屏幕下的元素，机器无需运动，一次性自动测完；
6、可自动判断产品的NG/OK，并用颜色标识测量超差的位置；
十二、逆向工程
强大的扫描功能结合CAD支持功能，使得逆向更为现实，仅需给出一个起点和一个终点，即可自动进行轮廓扫描；
