原子力显微镜Dimension Icon
性能优异、具备智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大样品台的原子力显微镜
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有更高水平的性能，多种不同功能和配件选择，测试功能强大，操作简便易行。
通过齐集Dimension系统数十年的技术经验、广大客户反馈、结合工业领域的设备需求， Dimension Icon进行了全面革新。全新的系统设计，实现了更高水准的低漂移和低噪音水平。现在，用户只需要几分钟就可获取真实准确的扫描图像。
优异性能
· 独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现开环噪声级别的大样品高分辨率扫描成像。
· 进一步有效的降低了噪声水平，接触模式下可获得原子级图像，在轻敲模式下低于 30pm
· 热漂移速率低千200pm/ 分钟，获得真正的无曲图像
快速、高效的检测效率
· XYZ闭环扫描器的新型设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也会不降低图像质量，并有更好的数据采集效率。
· 参数预设置中融入了多年的研发经验，新的NanoS cope® 软件带有默认的实验模式 。
· 高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置
强大的多功能性
· 针尖和样品之间具有开放式空间，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，能够满足不同研究工作的需求
· 在硬件和软件技术方面的不断创新，新开发的HarmoniX模式，可以测量纳米尺度上材料性质
· 用户可通过使用程序脚本进行半自动测量和数据分析
产品特色
高性能和高分辨率
Dimension® Icon™是布鲁克在针尖扫描技术上的一项革新技术，具有的分辨率，与Bruker的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。
系统配置温度补偿位置传感器，实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平，将这个性能应用在 90 微米扫描范围、大样品台系统上，效果甚至超过大部分高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量。
配置了Bruker的PeakForce®技术，Dimension Icon可实现智能获取高分辨图像。
接触模式获得的云母原子图像，扫描速度0.6Hz
表现
Dimension Icon原子力显微镜已成为研究领域饱受欢迎的原子力显微镜型号之一， 使用Dimension Icon发表文章的数目比其他大样品台AFM更多。Dimension Icon 在原有的操作平台上引入新技术，展现出更高的性能和更快的测量速度。其软件直观的工作流程，使其操作过程比以往的AFM 技术更加简便。
现在，Dimension Icon用户无需像以前一样调整几小时的专业参数，即可立即获得高质量的测量结果。Dimension Icon 的每个方面，从开放式针尖样品空间，到软件参数预设置，都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM 易用性。
Dimension Icon用户操作界面
应用广泛，表现出众
Dimension Icon可高速捕捉多通道数据，获得更多高质量的测量结果。结合Bruker多项AFM方面的技术和模式以及模式增强功能，Icon能够提供的仪器性能和出众的测量表现，能够帮助您在纳米研究、材料研究等领域里更上一层楼。
· 材料成像
ICON支持Bruker的PeakForce ONM™成像模式，研究者在获得高分辨率形貌图像的同时，还可以对样品进行纳米定量力学性能测试，同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广(模量从1MPa到50GPa，粘附力从10pN到10μN)，可以对不同类型的样品进行表征。
· 电学表征
可以以更高的灵敏度和更大的动态范围实现电学表征。把这些研究与其他技术结合起来，比如Dark Lift，可在扫描电容显微镜，扫描扩散电阻显微镜，扭转共振隧道电流原子力显微镜中获得真正的无假象数据
· 纳米操纵
可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。Icon的 XYZ闭环扫描器可实现无压电蠕变效应和超低噪音的精密探针定位，适用于任何纳米操纵系统。
· 加热和冷却
使用AFM不同模式扫描的同时，可实现-35°C到 250°C的温度控制和热分析。使用热探针可以在小于100nm的样品局部加热，达到400°C。
灵活的AFM平台
Dimension Icon 展现出了的的性能，稳定性和灵活性，几乎可以实现以前只有在特制系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型或多元样品支架和许多简单易用的性能，把AFM 的强大功能展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM成像和纳米操作设定了新的标准。
Dimension Icon 提供对性能没有任何影响的灵活性平台， 一个平台，无限可能：
· 开放的平台，能整合其他技术
· 开放的软件和硬件，能轻松定制您的研究应用 - "如果它不存在， 就发明它"
· 电池、有机太阳能等研究的完整解决方案
左图：手套箱中的AFM-拉曼联用。 右图：光导AFM配件。
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。
Dimension Icon数据示例：
左：轻敲 (Tapping) 模式中的syndiotactic polypropylene闭环成像。扫描范围: 5μm。
右：Syndiotactic polypropylene结晶动力学研究: 本体聚合物从室温(左)快速加热至160℃的熔化状态。128°C 时，促进了等温结晶的平衡，并形成比原始层状晶体更大的晶体。右图显示 101 分钟的部分结晶图像。
左：空气中DNA的轻敲模式闭环图像。扫描范围: 2μm，扫描速率: 4.88Hz
中：HOPG上C36H74 烷的AFM图像。清晰可见的片层结构间距，与扩展C36H74 链构象下的长度间距 (±4.5nm)一致
右：使用TR-TUNA模式对金图案化硅基底上分散的单壁碳形貌和导电性同时成像。扫描范围: 1μm
左：压电薄膜材料上Dimension lcon loge刻蚀图案的压电响应力显微镜(PFM)振幅图像。显示Icon探针在刻蚀过程中的精确 XY 定位控制。扫描范围: 20μm
中：HarmoniX 黏附力成像显示毛细力相互作用
右：HOPG上C36H74 烷的闭环、高分辨率AFM 图像。扫描范围: 100nm
