高性能高纯锗（HPGe）同轴辐射探测器，用于安全保障和非破坏性分析

安全保障和非破坏性分析（NDA）应用中所需的精确同位素比率测量对伽马射线和X射线光谱技术提出了严格的要求。对能量区域的选择具体取决于样品类型、源以及材料基质。

为获得高精度同位素比而编写的国家实验室软件代码必须能够处理这些光谱以分析其中峰组紧靠在一起的低能量和/或高能量区域。每个代码都需要的系统分辨率和稳定性，以准确展开这些区域。

最近的安全保障发展趋势促进了同位素比率测定需求的不断增长，其中涉及到更高的能量伽马射线。这需要测量衰减样品，例如在废物分析和某些国土安全应用中发现的样品。现在，诸如FRAM和MGAHI的软件代码可以从光谱的较高能量区域确定Pu同位素比率。因此，希望生产这样一种HPGe探测器，它既具有更高的能量性能，同时又能保持这些应用中所需的优异分辨率特性。

ORTEC安全保障系列包括同轴和平面几何探测器，专门设计用于满足同位素比率测定中应用软件的需求，可在低能量分辨率和高能效之间达到平衡。

SGD系列探测器与所有常规MCA型号兼容，与ORTEC数字信号处理光谱仪一起使用时可获得性能。

所有SGD探测器都具有以下特点：

• 可选择固定式、便携式和定制低温恒温器，包括的MOD多方位杜瓦瓶选件。
• 坚固耐用的铝制端盖
• 精简型前置放大器组件
• 无LN2选件

的低功耗电阻反馈前置放大器，具有“无环”输出，适用于所有现有类型的MCA系统。在±12和±24 V时功耗小于25 mA

应用注意事项
对于厚壁容器中的样品，或当存在显着的基质衰减时，可能需要使用更高的频谱能量区域来进行分析。在这些情况下，开发了同轴或半同轴的SGD-GEM探测器，以在低能量分辨率和高能效之间达到平衡。

SGD-GEM-5050P4是用于FRAM的“传统”同轴探测器，适用于各种情况，包括UF6钢瓶的测量。

SGD-GEM-5030P4具有半平面几何形状，更加实用，可以替代“望远镜”探测器，在所谓的“双探测器”模式下通常使用TRIFID和MGA代码。最近在晶体和前置放大器技术方面的进步使得用单个SGD-GEM-5030P4探测器同时收集高能和低能光谱成为可能。

SGD-GEM-6560P4专门用于提供大面积探测器，满足FRAM代码的分辨率要求，具有良好的高能效和大探测面积。

SMART-1选件 (-SMP)
SMART-1选件用于监控和报告重要的系统功能，还可保存验证码并在稍后报告该验证码。它包括高压，因此所有仪器都不需要外部高压电源。SMART-1采用坚固的ABS模塑塑料外壳，并通过模塑应变消除密封电缆牢牢地固定在探测器端盖上。这可避免探测器因水分泄漏到高压连接器中而受到严重损坏。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不会干扰屏蔽罩或其他安装硬件。