产品介绍
第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪，采用世界上的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，zui大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。
性能特点
◎高灵敏度---自动切换4种滤光片
在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
◎自动定性分析
A，自动过滤背景
X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。（详见后页背景效果比较图）
B，自动剥离重叠峰
当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
C，自动补偿逃逸峰
逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素
的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
D，自动追踪谱图漂移
在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
◎定量分析
A，FP基础参数法
B，标准法
C，1点校正
主要技术指标：
| 分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |||
| 分析元素 | Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） | |||
| Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型） | ||||
| 检出下限 | Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm | |||
| 样品形状 | zui大460×380mm(高150mm) | |||
| 样品 | 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体 | |||
| 样品室气氛 | 大气 | |||
| X射线管 | 靶材 | Rh | ||
| 管电压 | zui大50KV | |||
| 管电流 | zui大1mA | |||
| X射线照射径 | | 1/3/5mm | ||
| 防护 | ＜0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕） | |||
| 检测器 | 硅SIPIN探测器 | |||
| 光学图像观察 | | 倍率15倍 | ||
| 软件 | 定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移） | |||
| 照射径：1/3/5mm | ||||
| 定量分析：基础参数法/标准法/1点校正 | ||||
| 计算机 | CPU | PentiumIV1.8GHz以上 | ||
| 内存 | 256MB以上 | |||
| 硬盘 | 20GB以上 | |||
| OS | WindoP | |||
| 监视器 | 17寸LCD | |||
| 周围温度 | 10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度） | |||
| 周围湿度 | 5～31。C时温度范围：zui大相对湿度80%以下 / 31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下 | |||
| 电源 | AC110V/220V±10%、50/60HZ | |||
| 消耗电力 | 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机） | |||
| 设备重量 | 约65kg(不含桌子、计算机） | |||
| 外形寸法 | 600（W）×545（D）×435（H）mm | |||
