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仪表网>产品库>分析检测>光学测量>荧光检测器>美国THEMOR荧光测厚仪
  • 美国THEMOR荧光测厚仪

美国THEMOR荧光测厚仪 美国THEMOR荧光测厚仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号美国THEMOR
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2018-05-15
  • 厂商性质经销商
  • 入驻年限15
  • 产品数量22
  • 人气值719
产品标签

测厚仪

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美国THEMOR荧光测厚仪:
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美国THEMOR荧光测厚仪 产品详情

 

美国THEMOR荧光测厚仪:

-射线金属镀层测厚仪 世界*光学准直器,光束zui少可达0。025mm 集中X-射线光束,强度加强5-8倍适合较薄镀层测量,测量时间为正常的1/5 配有ZOOM功能,图像可放大到zui高200倍更新FP方法,适合多层厚度测量

 

关键词:测厚仪
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